JEOL JSM-F100扫描电子显微镜

 

JSM-F100配备了In-lens Schottky Plus电子枪，能够在低加速电压下实现高分辨率成像，分辨率3纳米（在30kV下）。配备了LIVE-AI过滤器，利用人工智能技术提供高质量的实时图像，适合快速搜索观察区域和聚焦。内置的能量色散X射线光谱仪（EDS）与显微镜系统无缝集成，支持从图像到元素分析结果的快速获取。

科研实验应用：1、材料科学：用于金属、陶瓷和复合材料的微观结构分析；2、生物医学：在生物样品的观察和分析中，提供高分辨率的细胞和组织结构图像；3、纳米技术：用于纳米材料的形貌和成分分析，支持纳米级研究；4、化学研究：分析化学反应产物的微观形态，支持化学合成研究；5、半导体行业。

JEOL JSM-F100扫描电子显微镜技术参数：

• 背散射电子图像分辨率：4nm
• 二次电子图象分辨率：3nm@30KV
• 加速电压：0.5-30kV
• 放大倍数：5-300000
• 仪器种类：钨灯丝
• 背散射电子像：≤5.0nm(20KV)
• 放大倍数：X8～x300000倍
• 真空度：高真空≤0.1mPa
• 泵系统：涡轮分子泵1个,机械泵 1个。正常换样时间小于3分钟
• 聚光镜：可变焦距聚焦镜
• 物镜： 超 级圆锥形物镜
• 聚焦：自动或手动聚焦
• 物镜光栏：单一物镜光栏

JEOL JSM-F100扫描电子显微镜使用方法：

1. 确保显微镜放置在稳定的工作台上，避免震动。
2. 连接电源并开启设备。
3. 根据样品类型选择合适的样品支架，确保样品固定稳固。
4. 对非导电样品进行导电涂层处理（如需）。
5. 根据样品特性设置加速电压和真空度。
6. 调整电子束聚焦和扫描速度。
7. 通过“SEM Center”界面选择成像模式，开始扫描。
8. 使用LIVE-AI过滤器优化图像质量，快速定位观察区域。
9. 切换至EDS分析模式，进行元素成分分析。
10. 记录分析结果并保存数据。
11. 完成观察后，关闭设备并进行清理。记录实验数据和观察结果。

JEOL JSM-F100扫描电子显微镜有哪些实验室在用：

• 中国科学院金属研究所：用于金属材料的微观结构分析。
• 清华大学材料科学与工程系：在纳米材料研究中进行形貌观察。
• 北京大学生命科学学院：用于生物样品的细胞结构分析。
• 复旦大学化学系：分析化学反应产物的微观形态。
• 上海交通大学电子工程系：在半导体材料研究中进行缺陷分析。
• 中山大学环境科学与工程系：用于环境污染物的微观结构分析。

JEOL JSM-F100扫描电子显微镜售后服务支持：

• 在线支持：提供在线技术支持，用户可以通过电子邮件或官方网站提交问题。
• 电话支持：专业技术团队可通过电话为用户提供实时帮助。
• 保修期限：提供一定期限的保修服务，具体视购买协议而定。
• 现场维修：提供现场维修服务，确保设备快速恢复正常运行。
• 运输维修：若设备不能现场修复，可以安排运输至服务中心进行维修。
• 维护计划：提供定期维护服务，以确保设备的最佳性能和准确度。
• 校准服务：定期校准设备，确保测量结果的可靠性。
• 用户培训：提供设备操作培训，确保用户能够熟练使用仪器。
• 应用培训：针对特定应用提供培训，以帮助用户发挥设备的最大潜力。

相关产品：

透射电子显微镜（TEM）：用于高分辨率的内部结构观察，适合细胞和纳米材料分析。

能量色散X射线光谱仪（EDS）：用于元素成分分析，支持材料和化学研究。

扫描探针显微镜（SPM）：用于表面形貌的高分辨率观察，适合纳米级研究。

激光粒度分析仪：用于粒子大小分布的分析，支持材料科学研究。

热重分析仪（TGA）：用于材料的热特性分析，结合显微镜数据进行综合研究。

X射线衍射仪（XRD）：用于材料的晶体结构分析，支持材料科学和化学研究。