JEOL JSM-IT510扫描电子显微镜

 

JEOL JSM-IT510扫描电子显微镜二次电子图像分辨率可达3nm（在30kV下），能够轻松选择观察条件和视野，自动获取SEM图像，减少手动操作，低真空混合二次电子探测器（LHSED）探测能够同时收集电子和光子信号，支持实时元素分析（EDS），允许处理较大样品。

科研实验应用：1、材料科学：用于研究金属、陶瓷和聚合物等材料的微观结构和性能；2、生物医学：在生物样品的观察和分析中，提供细胞和组织的高分辨率图像；3、半导体行业：用于半导体器件的缺陷分析和质量控制；4、化学分析：用于化学反应产物的形貌和成分分析。

JEOL JSM-IT510扫描电子显微镜技术参数：

解决	高真空模式 3.0nm(30kV),15.0nm(1.0kV) 低真空模式※1 4.0nm(30kVBED)
照片放大	×5至×300,000 （以128毫米×96毫米的照片尺寸定义）
显示放大率	×14至×839,724 （以358毫米×296毫米的照片尺寸定义）
电子枪	W灯丝，全自动枪对准
着陆电压	0.3kV至30kV
低压压力 调节※1	10至650Pa
物镜孔径	四级，带XY微调功能
自动功能	灯丝调整、枪对准调整、 光束对准 、焦点/散光/亮度/对比度校正
最大试样 尺寸	直径200mm×高75mm 直径200mm×高80mm※3 直径32mm×高90mm※3
标本台	大型同心载物台 X：125mmY：100mmZ：80mm 倾斜：-10至90°旋转：360°
图像模式	二次电子图像、REF图像、成分图像*1 、形貌图像※1、阴影图像※1、PD图像※4
图像大小	640×4801,280×960 2,560×1,9205,120×3,840
照片辅助功能	蒙太奇、简易SEM、Zeromag、实时3D
运营支持 功能	配方（标准配方/自定义配方） 测量（两点间距离、平行线间距离、角度、直径等） 标本交换导航 信号深度功能 3D测量※5
操作系统	Microsoft®Windows®1064位
观察监视器	23.8英寸触摸屏
EDS功能※2	参考EDS规范
数据管理	SMILEVIEW™实验室
报告生成 一键报告	输出至Microsoft®Word 输出至Microsoft®PowerPoint※6
语言切换	日语、英语、中文※7（可在UI上操作）
真空系统	全自动，TMP:1，RP:1或2※1

JEOL JSM-IT510扫描电子显微镜使用方法：

1. 样品准备：根据实验需求准备样品，确保样品表面干净且适合观察。
2. 样品安装：将样品固定在样品台上，确保其稳定。
3. 抽真空：启动真空系统，抽取样品室内的空气，达到所需的真空度。
4. 设置观察条件：根据样品类型设置加速电压、放大倍数等参数。
5. 开始观察：使用简单SEM功能选择目标视野，自动获取图像。
6. 数据分析：利用实时分析功能进行元素分析，记录观察结果。
7. 结束实验：完成观察后，逐步释放真空，取出样品并关闭设备。

JEOL JSM-IT510扫描电子显微镜有哪些实验室在用：

• 中国科学院金属研究所：用于金属材料的微观结构分析。
• 清华大学材料科学与工程系：进行新材料的开发和性能测试。
• 复旦大学生物医学研究中心：用于细胞和组织样品的观察。
• 上海交通大学电子工程系：在半导体器件的缺陷分析中应用。
• 中南大学环境科学与工程学院：分析环境样品中的污染物。
• 北京大学化学与分子工程学院：用于化学反应产物的形貌和成分分析。

JEOL JSM-IT510扫描电子显微镜售后服务支持：

• 服务内容：提供专业的安装和调试服务，确保设备正常运行。
• 定期维护：建议每年进行一次全面的维护，包括硬件检查和软件更新。
• 校准服务：按照国际标准对设备进行校准，保证测试结果的准确性。
• 热线支持：提供24小时技术热线，解决用户在使用过程中遇到的技术问题。
• 在线支持：通过邮件和在线聊天工具提供技术咨询。
• 原厂配件：提供原厂认证的配件和耗材，确保设备的长期稳定运行。
• 用户培训：为操作人员提供设备使用和维护的培训，确保用户熟练掌握操作技能。
• 定期研讨会：定期举办用户交流会，分享最佳实践和最新技术。

相关产品：

透射电子显微镜（TEM）：用于更高分辨率的样品内部结构分析。

原子力显微镜（AFM）：用于表面形貌的高分辨率观察。

X射线光电子能谱仪（XPS）：用于样品表面化学成分的分析。

能谱仪（EDS）：与SEM结合使用，进行元素成分分析。

激光粒度分析仪：用于测量颗粒的大小分布，常与SEM结合使用。

真空泵：用于维持显微镜内部的真空环境，确保观察质量。