OLYMPUS OLS5100-SAF扫描电子显微镜
OLS5100-SAF扫描电子显微镜具备高达17,280倍的总放大倍率,能够在亚微米级别进行精确测量,显微镜配备了智能实验管理系统(Smart Experiment Manager),能够自动化实验计划的创建,简化操作流程,支持多种成像模式,包括激光成像、3D形状数据获取等,能够同时获取彩色图像和激光图像。

科研实验应用:1、生物医学:用于观察生物样品的细微结构,支持生物材料的研究;2、纳米技术:研究纳米材料的特性和应用,进行纳米级别的表面分析;3、地质科学:分析矿物和岩石的微观特征,支持地质研究和资源勘探;4、化学:进行化学样品的组成和结构分析,支持化学反应的研究。
OLYMPUS OLS5100-SAF扫描电子显微镜技术参数:
| 型号 | OLS5100-SAF | |
|---|---|---|
| 综合倍率 | 54x17280x | |
| 视场 | 16µm5,120µm | |
| 测量原理 | 光学系统 | 反射型共聚焦激光扫描(激光)显微镜 反射型共聚焦激光扫描(激光-DIC)显微镜 彩色 彩色-DIC |
| 光接收元件 | 激光:光电倍增管(2通道) 彩色:CMOS彩色相机 |
|
| 高度测量 | 显示分辨率 | 0.5nm |
| 动态范围 | 16位 | |
| 可重复性σn-1*1*2*5 | 5X:0.45μm,10X:0.1μm,20X:0.03μm,50X:0.012μm,100X:0.012μm | |
| 准确度*1*3*5 | 0.15+L/100μm(L:测量长度[μm]) | |
| 拼接图像准确度*1*3*5 | 10X:5.0+L/100μm;20X或更高:1.0+L/100μm(L:拼接长度[μm]) | |
| 测量噪声(Sq噪声)*1*4*5 | 1nm(典型值) | |
| 宽度测量 | 显示分辨率 | 1nm |
| 可重复性3σn-1*1*2*5 | 5X:0.4μm,10X:0.2μm,20X:0.05μm,50X:0.04μm,100X:0.02μm | |
| 准确度*1*3*5 | 测量值+/-1.5% | |
| 拼接图像准确度*1*3*5 | 10X:24+0.5Lμm;20X:15+0.5Lμm;50X:9+0.5Lμm;100X:7+0.5Lμm(L:拼接长度[mm]) | |
| 单次测量时最大测量点数量 | 4096×4096像素 | |
| 最大测量点数量 | 3600万像素 | |
| XY载物台配置 | 长度测量模块 | • |
| 工作范围 | 100×100mm电动 | |
| 最大样品高度 | 100mm | |
| 激光光源 | 波长 | 405nm |
| 最大输出 | 0.95mW | |
| 激光分类 | 2类(IEC60825-1:2007,IEC60825-1:2014*6 | |
| 彩色光源 | 白光LED灯 | |
| 电气功率 | 240W | |
| 质量 | 显微镜主体 | 约重31kg |
| 控制盒 | 约重12kg | |
OLYMPUS OLS5100-SAF扫描电子显微镜使用方法:
- 样品准备:确保样品干燥且适合在真空环境中观察。
- 样品安装:将样品固定在显微镜的样品台上,确保其稳定。
- 真空环境建立:启动设备,等待真空系统完成抽气。
- 选择观察模式:根据实验需求选择合适的观察模式(如激光成像或3D成像)。
- 数据采集:使用智能实验管理系统设置实验参数,按下开始按钮,系统将自动进行数据采集。
- 数据分析:通过集成的软件进行数据分析,获取样品的表面特征和粗糙度数据。
OLYMPUS OLS5100-SAF扫描电子显微镜有哪些实验室在用:
- 中国科学院材料研究所:进行新型材料的微观结构分析。
- 清华大学电子工程系:研究电子元件的表面特性。
- 复旦大学生物医学工程系:观察生物样品的细胞结构。
- 中科院地质与地球物理研究所:分析矿物的微观特征。
- 上海交通大学材料科学与工程系:研究合金材料的微观特性。
- 北京大学化学系:进行化学反应中材料的表面变化分析。
OLYMPUS OLS5100-SAF扫描电子显微镜售后服务支持:
- 电话与在线支持:提供专业的技术咨询,解答用户在操作和维护过程中遇到的问题。
- 现场服务:技术人员可根据需要到现场进行设备检查和故障排除。
- 故障诊断与维修:快速响应用户的维修请求,进行故障诊断和必要的维修。
- 更换零部件:提供原厂零部件的更换服务,确保设备的稳定性和长期使用。
- 操作培训:为用户提供设备操作培训,确保用户能够熟练使用仪器。
- 固件与软件升级:定期提供软件和固件的更新服务,以保证设备功能的最新和最佳性能。
- 用户手册:提供详细的用户手册和操作指南,帮助用户更好地理解和使用设备。
- 技术文献:提供相关的应用文献和案例分析,支持用户的研究和开发工作。
相关产品:
扫描电子显微镜(SEM):用于高分辨率的表面形貌观察,适合与OLS5100结合进行综合分析。
能谱仪(EDS):进行元素成分分析,常与OLS5100结合使用,提供更全面的样品分析。
原子力显微镜(AFM):用于表面形貌的高分辨率观察,适合与OLS5100互补。
激光共聚焦显微镜:用于生物样品的三维成像,常与OLS5100结合进行综合分析。
电子探针显微镜(EPMA):用于高精度的元素分析,适合与OLS5100配合使用。
X射线衍射仪(XRD):用于材料的晶体结构分析,常与OLS5100结合使用,提供更全面的材料特性分析。
文章标签:扫描电子显微镜ols5100-safolympus扫描电镜 扫描电子显微镜 SEM 评论收藏分享
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