JEOL JSM-7800F扫描电子显微镜

 

JSM-7800F扫描电子显微镜×25至×1,000,000放大倍数，物镜为超级混合透镜 (SHL)，由静电磁场与静电电场叠加而成。通过减少色差和球面像差，可提高分辨率采用新开发的超级混合透镜（SHL）和肖特基型电子枪，即使使用大探针电流，也能实现稳定的分析。搭载了4种检测器，获取所有信息。

科研实验应用：1、材料科学：用于观察材料的微观结构、晶粒尺寸、相分布等；2、地质学：用于矿物、岩石的微观形貌和成分分析；3、半导体行业：用于半导体器件的缺陷分析、表面形貌观察等；4、纳米技术：用于纳米材料的形貌、结构及性能研究。

JEOL JSM-7800F扫描电子显微镜技术参数：

解决	0.8纳米（15kV） 1.2纳米（1kV） 3.0纳米（15kV、5nA、WD10mm）
放大	×25至×1,000,000(SEM)
加速电压	0.1kV至30kV
探针电流	几pA至200nA
光圈角优化镜头	内置
探测器	上电子探测器（UED）  下电子探测器（LED）
能量过滤器	内置UED滤波器电压变化功能
柔和的光束	内置
图像显示	图像显示区域1,280x960像素、800x600像素
标本交换室	标准 　样品交换室TYPE2A组成。
标本台	5轴马达驱动平台 全同心测角平台
XY	X：70毫米，Y：50毫米
倾斜	-5至＋70°
旋转	360°
西部数据	2mm至25mm
疏散系统	两个SIP、TMP、RP
生态设计	正常运行时：1.1kVA 睡眠模式时：0.8kVA

JEOL JSM-7800F扫描电子显微镜使用方法：

1. 开机准备：确保仪器放置在无震动、无电磁干扰的环境中，连接电源和冷却系统。
2. 样品制备：根据样品性质进行适当的制备，如导电处理、切片等。
3. 样品装载：将样品固定在样品台上，放入扫描电子显微镜的样品室。
4. 真空抽气：关闭样品室门，启动真空泵，对样品室进行抽真空。
5. 参数设置：根据分析需求设置加速电压、工作距离、扫描速度等参数。
6. 图像采集：调整焦距和像散，进行图像采集和记录。
7. 数据分析：利用数据处理软件对采集的图像和数据进行分析。
8. 仪器关闭：完成分析后，按照操作规程关闭仪器和真空泵，取出样品。

JEOL JSM-7800F扫描电子显微镜有哪些实验室在用：

• 中国科学院物理研究所：用于纳米材料和超导材料的微观结构研究。
• 清华大学材料科学与工程学院：用于金属和复合材料的表面形貌分析。
• 北京大学化学与分子工程学院：用于纳米颗粒和催化剂的形貌表征。
• 上海交通大学微纳科学技术研究院：用于半导体材料和器件的微观缺陷分析。
• 浙江大学材料科学与工程学院：用于陶瓷和功能材料的微观结构研究。
• 中国地质大学（北京）地质过程与矿产资源国家重点实验室：用于矿物和岩石的微观结构及成分分析。

JEOL JSM-7800F扫描电子显微镜售后服务支持：

• 电话与在线支持：提供专业的技术咨询，解答用户在操作和维护过程中遇到的问题。
• 现场服务：技术人员可根据需要到现场进行设备检查和故障排除。
• 故障诊断与维修：快速响应用户的维修请求，进行故障诊断和必要的维修。
• 更换零部件：提供原厂零部件的更换服务，确保设备的稳定性和长期使用。
• 操作培训：为用户提供设备操作培训，确保用户能够熟练使用仪器。
• 固件与软件升级：定期提供软件和固件的更新服务，以保证设备功能的最新和最佳性能。
• 用户手册：提供详细的用户手册和操作指南，帮助用户更好地理解和使用设备。

相关产品：

透射电子显微镜（TEM）：用于更高分辨率的内部结构分析。

原子力显微镜（AFM）：用于样品表面形貌的三维成像。

X射线衍射仪（XRD）：用于晶体结构分析。

聚焦离子束显微镜（FIB）：用于样品切割和微观加工。

拉曼光谱仪：用于样品的化学结构分析。

能谱仪（EDS）：用于元素成分分析（通常与SEM联用）。