JEOL JXA-8230电子探针显微分析仪

 

JXA-8230电子探针显微分析仪可以测定从B到U的元素浓度，精度为2%量级，检测限为几百百万分率(ppm)。扫描放大倍数×40至×300，000（工作距离11毫米）。可以获得浓度分布的线轮廓和二维图。易于使用的PC界面提供全方位的分析。

科研实验应用：1、材料科学：分析金属合金、陶瓷和复合材料的元素组成、微观结构和相分布；2、地质学：研究矿物和岩石样品的成分，评估矿产资源的潜力；3、电子学：分析半导体材料和薄膜的成分，支持电子器件的开发；4、生物医学：研究生物材料的元素组成，评估其在医疗应用中的安全性和有效性。

JEOL JXA-8230电子探针显微分析仪技术参数：

可检测元素范围	WDS：(Be)※1)/B～U，EDS：B～U
可探测X射线范围	WDS可检测波长范围：0.087至9.3nm EDS可检测能量范围：20keV
光谱仪数量	WDS：最多5个可选，EDS：1
最大样品尺寸	100毫米×100毫米×50毫米（高）
加速电压	0.2至30kV（0.1kV步进）
探头电流范围	10-12至10-5A
探针电流稳定性	±0.05%/小时，±0.3%/12小时（宽）
二次电子图像分辨率	6nm（W）、5nm（LaB6）※2 （WD11mm，30kV）
扫描放大倍数	×40至×300，000（工作距离11毫米）
扫描图像分辨率	最大5，120×3，840
彩色显示屏	用于EPMA分析：LCD1，280×1，024 用于SEM操作和EDS分析：LCD1，280×1，024

JEOL JXA-8230电子探针显微分析仪使用方法：

1. 样品准备：样品需经过适当的切割、抛光和涂层处理，以确保表面平滑且导电。
2. 仪器设置：打开仪器，设置真空环境，调整电子束和探测器的参数。
3. 样品装载：将准备好的样品放置在样品台上，确保样品位于电子束的路径上。
4. 校准：使用标准样品进行校准，确保分析结果的准确性。
5. 数据采集：启动分析程序，电子束扫描样品表面，探测器收集发射的特征X射线。
6. 数据处理：使用软件对采集的数据进行分析，生成元素分布图和定量结果。
7. 结果分析：解释分析结果，评估样品的组成和微观结构特征。
8. 清洁与维护：分析结束后，清理样品台和仪器内部，定期进行维护以保持仪器性能。

JEOL JXA-8230电子探针显微分析仪有哪些实验室在用：

• 中国科学院微电子研究所：应用于集成电路器件、薄膜材料的元素分布分析
• 北京航空航天大学电子信息工程学院：用于新型半导体、微电子材料的成分表征
• 复旦大学微电子学院：应用于MEMS器件、先进集成电路的元素分布研究
• 中国科学院过程工程研究所：用于燃料电池、电池材料的微区元素分布表征
• 浙江大学清洁能源研究院：应用于太阳能电池、储能材料的成分分析
• 华中科技大学材料科学与工程学院：用于新型能源材料的微结构与成分表征

JEOL JXA-8230电子探针显微分析仪售后服务支持：

• JEOL在全国设有多家售后服务中心，配备经过专业培训的工程师团队。
• 针对仪器运行故障提供快速响应和上门维修服务，确保仪器快速恢复正常运行。
• 根据仪器使用情况，JEOL建议用户定期进行保养维护，如真空系统检查、光学系统校准等。
• 提供周期性的保养维护服务，确保仪器长期稳定可靠地运行。
• JEOL为新购用户提供系统操作培训，帮助用户快速掌握仪器的使用方法。
• 定期组织用户培训研讨会，分享使用经验、最新技术进展，提升用户分析能力。
• 建立完善的备件库存，确保用户所需备件随时可供。
• 对于紧急情况下的备件需求，JEOL提供快速响应和送货服务。
• 设有专业的技术支持团队，为用户提供日常使用咨询、方法指导等服务。
• 建立24小时在线技术支持热线，确保用户随时获得专业的技术支持。

相关产品：

扫描电子显微镜（SEM）：用于观察样品的表面形貌，结合EPMA可获得更全面的信息。

透射电子显微镜（TEM）：用于观察样品的微观结构，结合EPMA可进行多样品分析。

X射线衍射仪（XRD）：用于分析样品的晶体结构，提供相信息，与EPMA结合使用可深入研究材料特性。

原子力显微镜（AFM）：用于样品的表面形貌分析，结合EPMA可获得更高分辨率的结果。

激光共聚焦显微镜：用于观察样品的光学特性，结合EPMA可进行多维数据分析。