ZEISS Sigma500场发射扫描电子显微镜

 

ZEISS Sigma500场发射扫描电子显微镜使用环形背散射检测器(aBSD)表征成分、晶体学和表面形貌。可实现小至1纳米的成像分辨率。利用8.5毫米的短分析工作距离和35°的出射角可获益。(ROI) 自动获取多个样本的图像。4步工作流程既可以控制Sigma的所有功能。

ZEISS Sigma500场发射扫描电子显微镜

科研实验应用:1、材料科学:用于观察材料的微观结构、表面形貌和成分分析,特别是在金属、合金、陶瓷和复合材料的研究中;2、纳米技术:分析纳米材料的形态和分布,研究纳米颗粒的特性;3、生物科学:用于生物样品(如细胞、组织)表面的观察,提供高分辨率的图像;4、半导体行业:检测和分析半导体器件的表面缺陷和微结构。

ZEISS Sigma500场发射扫描电子显微镜技术参数:

电子源:肖特基热场发射极 肖特基热场发射体
30kV时的分辨率(STEM): 1.0纳米
15kV时的分辨率: 1.0纳米
1kV时的分辨率: 1.6纳米
30kV时的分辨率(VP模式): 2.0纳米
背向散射探测器(BSD): aBSD/HDBSD
最大扫描速度: 50纳秒/像素
加速电压: 0.02–30千伏
放大倍数: 10×–1,000,000×
探头电流: 3pA–20nA(100nA可选)
图像帧存储: 32k×24k像素
端口: 10
EDS端口: 2(1个专用端口)
高真空: 是的
可变压力: 10-133帕
阶段类型: 5轴同心平台
X阶段行程: 125毫米
Y阶段行程: 125毫米
Z阶段行程: 50毫米
T阶段行程: 10至+90度
R阶段行程: 360°连续

ZEISS Sigma500场发射扫描电子显微镜使用方法:

  1. 样品准备:确保样品表面干净、平整,必要时进行涂层处理以提高导电性(如金或铂涂层)。
  2. 仪器启动:打开电源,等待系统自检完成。
  3. 真空系统:启动真空泵,抽取样品室内的空气,达到所需的真空度。
  4. 样品安装:将样品固定在样品台上,确保其稳固,并对准电子束。
  5. 设定参数:根据样品类型和分析要求设置加速电压、束流强度和扫描模式。
  6. 图像采集:启动扫描,实时观察图像,并进行图像采集和记录。
  7. 数据分析:使用相关软件进行图像处理、分析和测量。
  8. 仪器维护:定期清洁样品室,检查电子枪和真空系统的状态。

ZEISS Sigma500场发射扫描电子显微镜有哪些实验室在用:

  • 中国科学院物理研究所先进电子显微分析实验室:从事纳米材料的微观结构研究。
  • 南京工业大学材料科学与工程学院材料表征中心:开展功能陶瓷和金属基复合材料的表征分析。
  • 华南理工大学材料科学与工程学院先进电子显微分析中心:服务于新能源材料和纳米材料的微观表征。
  • 武汉理工大学材料科学与工程学院材料表征中心:支撑先进功能材料的微观结构分析。

ZEISS Sigma500场发射扫描电子显微镜售后服务支持:

  • 为Sigma500场发射扫描电子显微镜提供一定期限的的标准质保服务。
  • 在质保期内,如果出现任何质量问题,ZEISS公司将免费进行维修或更换相关零件。
  • 拥有专业的售后服务团队,提供快速响应和高质量的维修服务。
  • 服务团队能够及时诊断问题并快速修复,最大程度地减少用户停机时间。
  • 建有完善的备件储备库,确保客户能够及时获得所需的维修零件。
  • 对于一些常用易损件,ZEISS还提供备件包供客户自行更换,提高设备使用效率。
  • 设有专业的技术咨询热线,提供7*24小时的技术支持服务。
  • 对于复杂故障,ZEISS技术人员可远程协助客户进行诊断和维修。
  • 建议客户定期委托专业人员进行设备的预防性维护保养。
  • 通过定期保养,能够有效延长设备使用寿命,确保设备稳定可靠运行。

相关产品:

透射电子显微镜(TEM):用于对样品进行更高分辨率的内部结构分析,结合FE-SEM提供全面的微观结构信息。

激光共聚焦显微镜:用于生物样品的三维成像,与FE-SEM结合可研究细胞的表面特性和内部结构。

能谱仪(EDS):与SEM联用,进行元素成分分析,提供样品中元素的定量和定性信息。

原子力显微镜(AFM):用于表面形貌的高分辨率测量,与FE-SEM互补,提供样品表面的物理特性。

X射线衍射仪(XRD):用于分析样品的晶体结构,与SEM结合用于综合材料特性研究。

化学气相沉积仪(CVD):用于制备薄膜材料,与FE-SEM结合分析薄膜的表面和结构特性。

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