FRITSCH ANALYSETTE28粒度分析仪
FRITSCH ANALYSETTE28粒度分析仪配备一台高性能工业相机,便可覆盖极宽的测量范围,并且凭借500万像素的分辨率,即使是最小的颗粒也能获得最高分辨率。并且通过USB直接连接到计算机,可确保以最快的速度传输数据,以评估结果。并且测量持续时间可根据所需的图像数量(最多75张图像/秒)或测量颗粒的数量而变化。

科研实验应用:1、材料科学:测定粉末材料、颗粒和颗粒涂层的粒径分布,为材料设计和改性提供数据支持;2、制药行业:评估药物颗粒的大小和分布,影响药物的溶解性和生物利用度;3、食品工业:分析食品粉末和颗粒,优化产品的口感和稳定性;4、环境科学:研究土壤和沉积物的粒径特性,分析污染物的分布和迁移。
FRITSCH ANALYSETTE28粒度分析仪技术参数:
| 型号 | ANALYSETTE28 |
| 测量范围 | 干测量:20µm-20µm 湿测量:20µm-2,8µm |
| 分析方法 | 动态图像分析 |
| 分析类型 | 自由流动粉末和散装固体的干法测量 悬浮液和乳液的湿法测量 |
| 测量值 | 颗粒形状和粒度 |
| 标准 | ISO13322-2 |
| 镜头 | 干测量: 3种不同的、易于更换的远心镜头,测量范围: 1.90µm-20mm 2.40µm-9mm 3.20µm-4.5mm 湿测量: 远心镜头(包含在湿分散装置中),测量范围: 20µm-2.8mm |
| 测量范围(FoV) | 干测量: 3个镜片 1.53.8x45毫米 2.24.1x20.2毫米 3.11.5x9.62毫米 湿测量: 镜片 6.34x5.3毫米 |
| 相机 | 500万像素CMOS摄像头 2.448x2.050像素分辨率 USB3.0 |
| 典型测量时间 | <5分钟(取决于所需的测量统计数据) |
| 典型样品数量 | 干测量:10-100g 湿测量:0.1-1g |
| 测量速度 | 最大75张/秒 |
| 评估 | 快速图像分析,用于形态描述和粒度测定 |
| 电脑 | 预安装ImageSizing软件ISS,用于控制、记录和评估您的测量结果 (无需计算机即可运送到独联体国家) |
| 系统要求 (针对客户提供的计算机) |
-标准WindowsPC,配备IntelCorei7四核处理器或更高版本 -至少8GB系统内存 -主驱动器:256GBSSD -辅助驱动器:至少1TBHDD -USB3.0 -显示器分辨率为1.920x1.080像素或更高 -Windows7或更高版本(64位) -PDF阅读器 |
| 净重 | 干重:36.8公斤 湿重:68.6公斤 |
| 尺寸(宽x深x高) | 干尺寸:90x30x55厘米 湿尺寸:122x62x55厘米 |
FRITSCH ANALYSETTE28粒度分析仪使用方法:
- 样品准备:确保样品干燥和均匀,避免潮湿和结块。
- 仪器设置:打开仪器,进入控制界面,选择合适的测量模式(干法或湿法)。
- 样品装载:将适量的样品放入样品舱,确保样品均匀分布。
- 测量过程:启动测量程序,仪器将通过激光衍射原理进行粒度分析。
- 数据分析:测量完成后,使用配套软件对数据进行处理,生成粒度分布曲线和统计报告。
- 结果输出:输出数据报告,保存结果以供进一步分析和比较。
FRITSCH ANALYSETTE28粒度分析仪有哪些实验室在用:
- 北京航空航天大学材料科学与工程学院
- 上海交通大学材料科学与工程学院
- 浙江工业大学材料科学与化学工程学院
- 哈尔滨工业大学材料科学与工程学院
- 中国工程物理研究院材料研究所
- 中国建筑材料科学研究院
FRITSCH ANALYSETTE28粒度分析仪售后服务支持:
- 保修期限:通常提供一定期限的质保,具体根据购买协议而定。
- 保修范围:涵盖主要部件,包括电子系统和光学组件。
- 在线咨询:用户可通过FRITSCH官方网站、电子邮件或客服电话获得技术支持。
- 现场服务:在设备出现故障时,可以安排专业技术人员上门进行检修和维护。
- 维护计划:建议用户定期进行设备的检查和维护,以确保其稳定性和可靠性。
- 校准服务:提供定期校准,以确保测量精度符合行业标准。
- 操作培训:为新用户提供设备操作和维护的培训,确保其能够熟练使用仪器。
- 培训材料:提供详细的用户手册和操作指南,帮助用户快速掌握设备使用。
相关产品:
激光粒度分析仪:可与其他激光粒度分析仪器联用,以验证结果和进行交叉比较。
扫描电子显微镜 (SEM):观察样品的微观结构和形貌,补充粒度分析数据。
热重分析仪 (TGA):分析样品的热稳定性和组成,结合粒度信息,提供更全面的材料特性。
差示扫描量热仪 (DSC):研究材料的热特性,与粒度数据结合,深入分析材料性能。
X射线衍射仪 (XRD):用于研究材料的晶体结构,结合粒度分析,提供更完整的材料特性信息。
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