Micromeritics TriStar II Plus比表面积和孔隙率分析仪

 

Micromeritics TriStar II Plus是一款全自动表面面积和孔隙度分析仪，提供高效的高通量系统，三个采样端口可同时独立运行，使用标准氮气系统可以测量低至0.01m2/g的表面积。氪气选项可以将表面面积测量范围扩大到低至0.001m2/g。可根据应用需求进行定制分析。

科研实验应用：1、材料科学：用于测量各种材料（如粉末、颗粒和薄膜）的比表面积和孔隙结构；2、催化剂研究：在催化剂的开发和优化中评估催化剂的比表面积和孔隙度；3、环境科学；4、药物开发在药物载体的研究中，测量比表面积和孔隙率；5、能源材料：用于评估电池材料、超级电容器和气体储存材料的性能，尤其是在氢气和二氧化碳储存方面。

Micromeritics TriStar II Plus比表面积和孔隙率分析仪技术参数：

压力测量

绝对	范围：0至950毫米汞柱 分辨率：0.05mmHg以内 准确度：满量程的0.1%以内 线性：<量程的±0.1%
相对的	P/Po范围：0至1.0P/Po 分辨率：<10 -4

分析

比表面积	从0.01m 2 /g开始，氮单位 从0.001m 2 /g，氪单位
总表面积	从0.1平方米开始，氮气单位 从0.01平方米开始，氪气单位
孔隙体积	4×10 -6 cm³/g以上
杜瓦瓶保存时间	最长40小时
天然气消耗	每个端口最多300cm³STP

吸附气体

氮气单元	氮气；氩气、二氧化碳或其他非腐蚀性气体；丁烷、甲烷或其他轻质烃蒸气。氧气也可与合适的真空泵一起使用。
氪单位	与氮气装置相同，另外还能够在较低压力下进行氪表面积分析

使用易燃或有毒气体时，TriStar II Plus应在通风良好的环境中操作。

歧管温度

准确性	±0.25摄氏度
解决	0.1℃以内

真空系统

氮气单元	必须适应20×10-3mmHg或更高；使用油基或无油真空泵
氪单位	必须适应1×10-3mmHg；需要无油真空泵

操作环境

温度	10至35°C（50至95°F），工作状态 0至50°C（32至122°F），非工作状态
湿度	相对湿度20至80%，无凝结
室内或室外使用	仅限室内 海拔：最高2000米预期 环境污染度：2

尺寸：

高度	74厘米（29英寸）
宽度	40厘米（16英寸）
深度	51厘米（20英寸）
重量	37公斤（82磅）

电气

电压	100-240伏~
力量	最大150VA
频率	50/60赫兹
过压类别	二

Micromeritics TriStar II Plus比表面积和孔隙率分析仪使用方法：

1. 设备检查与准备：检查仪器的电源、气体连接和真空系统是否正常。
2. 样品准备：称取适量的样品，确保样品干燥且均匀，避免团聚现象。
3. 样品装载：将样品放入样品管，确保紧密固定并正确安装在仪器中。
4. 设置实验参数：在控制软件中输入所需的实验参数，如测量模式、气体类型（通常为氮气或氦气）和温度。
5. 仪器校准：进行仪器的校准，确保测量结果的准确性。
6. 开始测量：启动测量程序，实时监控数据采集过程。
7. 数据记录与分析：保存测量结果，使用软件分析数据，生成比表面积和孔隙率报告。
8. 样品取出与清理：测量完成后，取出样品并清理样品管，保持仪器整洁。
9. 关机与维护：完成操作后，关闭仪器，进行必要的维护和清理工作。

Micromeritics TriStar II Plus比表面积和孔隙率分析仪有哪些实验室在用：

• 中国科学院大连化学物理研究所催化实验室
• 北京大学化学与分子工程学院吸附材料实验室
• 南京工业大学化学与分子工程学院催化材料实验室
• 中国科学院纳米科学与技术研究所纳米材料实验室
• 清华大学材料科学与工程学院纳米技术中心
• 复旦大学化学系纳米化学实验室

Micromeritics TriStar II Plus比表面积和孔隙率分析仪售后服务支持：

• 技术支持：提供操作指导和技术咨询，帮助用户解决使用中的问题。
• 反馈机制：定期收集用户反馈，了解用户在使用过程中的体验和遇到的问题。
• 服务改进：根据用户反馈不断改进服务质量，确保满足用户的期望和需求。
• 保修期：提供相应的保修期，涵盖设备的主要部件和功能，确保用户在保修期内享受免费维修服务。
• 延长保修：提供延长保修服务选项，用户可以根据需求选择购买。
• 定期软件更新：提供软件更新服务，确保用户能够使用最新的功能和性能改进。
• 技术文档：提供详细的用户手册、操作指南和技术文档，帮助用户更好地理解和使用设备。
• 前提是实施正确的电气连接，并且电压和电流灵敏度范围未超过光学计规格。

相关产品：

扫描电子显微镜 (SEM)：观察样品的微观形貌，结合比表面积和孔隙率数据进行综合分析。

透射电子显微镜 (TEM)：提供更高分辨率的样品结构分析，与孔隙特性结合研究材料性能。

X射线衍射仪 (XRD)：分析样品的晶体结构，结合比表面积和孔隙率结果进行综合评估。

热重分析仪 (TGA)：评估材料的热稳定性，结合孔隙特性研究材料的耐热性能。

傅里叶变换红外光谱仪 (FTIR)：分析样品的化学成分，结合比表面积数据评估材料的表面特性。