PANalytical Empyrean X射线衍射仪
PANalytical Empyrean X射线衍射仪平台配备高分辨率θ-θ测角仪,是一款多用途研究衍射仪。Empyrean具有独特的能力,可以在一台仪器上测量所有样品类型-从粉末到薄膜,从纳米材料到固体物体。得益于光学和载物台的PreFIX概念,用户可以在几分钟内改变所选应用,而无需重新调整系统。
科研实验应用:1、晶体结构分析:确定材料的晶体结构、相组成和晶格参数;2、相变研究:研究材料在不同条件下的相变行为;3、材料表征:对粉末、薄膜和单晶等不同样品形式进行表征;4、应力分析:测量材料的残余应力和应变,帮助了解材料的力学性能;5、薄膜厚度测量:用于评估薄膜的厚度及其均匀性,尤其在半导体和光电材料中;6、纳米材料研究。
PANalytical Empyrean X射线衍射仪技术参数:
外壳尺寸 | 1400(宽)x1162(深)x1947(高)毫米 |
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外壳重量 | 1150公斤 |
附件-无障碍设施 | 大门,最多可同时容纳四人进出 |
外壳-安全 | 符合全球所有相关的电气、机械和X射线安全法规,适用于所有阳极类型 |
外壳安装 | 系统配有轮子,方便安装和移动 |
测角仪配置 | 垂直测角仪,有θ-θ或α-1几何结构可供选择 |
测角仪-半径和界面 | 半径为240毫米,可提供接口来减少特定应用的衍射光束半径 |
测角仪-可用范围 | 最大可用范围(取决于配件)-111°<2θ<168° |
测角仪-线性 | 2θ线性度等于或优于±0.01° |
测角仪-准确度和精密度 | 新一代直接光学编码系统(DOPS2),采用精确对准的Heidenhain编码器和路径跟踪技术,实现终身测角仪精度 |
PANalytical Empyrean X射线衍射仪使用方法:
- 设备检查与准备:检查仪器的电源、冷却系统及其他相关设备是否正常。
- 样品准备:根据实验要求准备样品,确保样品表面光滑且无污染。
- 样品装载:将样品固定在样品台上,确保其位置正确,适合X射线照射。
- 设置实验参数:在操作软件中输入所需的实验参数,包括波长、扫描角度和扫描速度。
- 校准与基线调整:进行仪器的校准,确保测量的准确性,必要时进行基线调整。
- 数据采集:启动测量,记录样品的衍射图谱,监控实验过程中的参数变化。
- 数据处理与分析:使用相关软件分析得到的衍射图谱,提取相位、晶体结构和其他特征数据。
- 样品取出与清理:测量完成后,取出样品并清理样品台,保持设备整洁。
- 关机与维护:完成所有操作后,关闭设备,进行必要的维护和清理工作。
PANalytical Empyrean X射线衍射仪有哪些实验室在用:
- 中国科学院物理研究所结构分析实验室
- 清华大学材料科学与工程学院材料表征中心
- 中国科学院化学研究所分析测试中心
- 北京大学化学与分子工程学院材料分析实验室
- 南京大学化学化工学院无机合成与结构实验室
- 华南理工大学材料科学与工程学院电池材料实验室
PANalytical Empyrean X射线衍射仪售后服务支持:
- 保修期限:通常提供一定期限的保修服务,具体根据购买协议而定。
- 保障内容:涵盖因材料或工艺缺陷导致的设备故障,提供免费的维修或更换服务。
- 在线支持:提供电话、电子邮件和在线支持平台,解答用户在操作、维护和数据分析中的问题。
- 现场支持:在设备出现技术问题时,可以安排技术人员到现场进行支持和维修。
- 现场维修:提供现场维修服务,确保设备能够快速恢复正常运行,减少停机时间。
- 返厂维修:用户可以将设备寄回指定的维修中心进行检修,通常在收到设备后的几天内完成。
- 定期校准:建议用户定期进行设备校准,以确保测量的准确性,提供相关的校准服务。
相关产品:
扫描电子显微镜 (SEM):用于观察样品的表面形貌,提供微观结构的详细信息。
能量色散X射线光谱仪 (EDX):结合XRD进行样品的元素分析,提供化学成分信息。
差示扫描量热仪 (DSC):分析材料的热性能,结合XRD研究相变行为。
热重分析仪 (TGA):测定材料的热稳定性和分解特性,进一步了解材料性质。
傅里叶变换红外光谱仪 (FTIR):用于分析材料的化学结构,结合XRD进行全面表征。
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