Bettersizer S3 Plus激光粒度分析仪
Bettersizer S3 Plus激光粒度分析仪将激光衍射和动态图像分析功能结合到一台仪器中。它可以测量从0.01μm到3500μm的颗粒的尺寸和形状。DLOI(双透镜和斜入射)系统可以测量小至0.01微米的超细颗粒,双摄像头成像技术可实时显示颗粒图像,可检测高达3500微米的超大颗粒。

科研实验应用:1、材料科学:研究粉末材料的粒度分布,评估其物理和化学特性;2、制药行业:在药物开发和生产中,分析药物颗粒的大小和分布,以确保产品的质量和稳定性;3、食品科学:用于分析食品成分的颗粒大小,如粉末状调味料、糖和淀粉;4、化学工业:监测化学原料和产品的粒度,以优化生产工艺。
Bettersizer S3 Plus激光粒度分析仪技术参数:
| 测量参数 | |
| 粒度分布 | 悬浮液、乳液、干粉 |
| 颗粒形状 | |
| 原理 | 激光衍射和动态图像技术 |
| 分析 | 米氏散射理论和夫琅禾费衍射理论 |
| 典型测量时间 | 少于10秒 |
| 测量性能 | |
| 测量范围 | 0.01-3500μm(激光系统) 2-3500μm(图像系统) |
| 准确性 | <0.5%(NIST认证标准) |
| 重复性 | <0.5%(NIST认证标准) |
| 尺寸类别数量 | ≤100(可调) |
| 送料方式 | 自动循环或半自动循环 |
| 特殊功能 | 折射率测量、SOP设置 |
| 图像识别 | 最高可达120fps,最高可达每分钟10,000个粒子 |
| 主设备 | |
| 光学系统 | 获得专利的DLOI(双透镜和斜入射)系统 |
| 激光 | 偏振光泵浦固体激光器(10mW/532nm) |
| 探测器 | 96个探测器(前向、侧向和后向布置) |
| 测量角度 | 0.02-165° |
| CCD相机 | 0.5x和10x |
| 图像分析 | 120万像素 |
| 速度 | |
| 循环速度 | 300–2500转/分 |
| 循环流量 | 3000-8000毫升/分钟 |
| 超声波处理 | 空转保护,最大50W(可调) |
| 循环槽容量 | 600毫升 |
| 软件 | |
| 符合 | 21CFR第11部分、ISO13320、ISO13322、USP<429>、CE |
| 报告 | 可定制的报告 |
| 系统参数 | |
| 尺寸(长x宽x高) | 820×610×290毫米 |
| 重量 | 48公斤 |
| 电压 | 直流24伏,50/60赫兹,20瓦 |
| 计算机配置(推荐) | |
| 计算机接口 | 至少需要一个高速USB2.0或USB3.0端口 |
| 操作系统 | Windows7/Windows10 |
| 硬件规格 | IntelCorei7、8GBRAM、500GBHD、两个PCI-EX16接口 |
Bettersizer S3 Plus激光粒度分析仪使用方法:
- 设备检查与准备:确保仪器连接到电源,检查激光器和光路,确保无灰尘和污染。
- 样品准备:准备待测样品,根据需要选择适当的溶剂或分散剂,以确保样品均匀分散。
- 样品装载:将样品放入样品池中,调整样品量以适应仪器的测量范围。
- 设定实验参数:根据实验需求设置测量模式、测量时间和其他相关参数。
- 进行背景测量:在样品测量前进行背景光测量,以消除环境干扰。
- 开始测量:启动仪器,开始进行粒度分析,监测数据采集过程。
- 数据分析:测量完成后,使用软件分析粒度分布,生成相关的报告和曲线图。
- 保存和记录数据:将实验数据保存到计算机中,记录实验条件和样品信息,以便后续分析。
- 清洗与维护:清理样品池和仪器表面,确保无残留物。
- 关闭设备:实验结束后,关闭激光粒度分析仪电源,清理实验区域。
Bettersizer S3 Plus激光粒度分析仪有哪些实验室在用:
- 北京大学化学与分子工程学院材料分析中心
- 中国科学院过程工程研究所粉体工程实验室
- 中国科学院金属研究所粉末冶金实验室
- 国家新能源汽车创新中心动力电池研究所
- 中国科学院化学研究所能源材料实验室
Bettersizer S3 Plus激光粒度分析仪售后服务支持:
- 专业咨询:提供操作指导、技术咨询和仪器使用的最佳实践,帮助用户解决在使用过程中遇到的问题。
- 在线支持:通过电话、电子邮件或在线聊天提供即时技术支持。
- 故障排除:提供设备故障诊断和修复服务,确保仪器的正常运行。
- 现场服务:在需要时,派遣专业技术人员到现场进行维护和修理。
- 免费维修:在保修期内,提供免费维修服务,包括备件更换和必要的调整。
- 延保选项:提供设备延长保修服务,保障设备长期使用。
- 用户培训:定期举办用户培训班,教授仪器的操作、维护和数据分析技能。
- 定制培训:根据用户需求提供定制化的培训课程,以满足特定应用的要求。
相关产品:
分析天平:在样品准备过程中进行精确称量,以确保样品量的准确性。
动态光散射仪 (DLS):联合使用,以研究纳米颗粒的粒度和分散性。
电子显微镜 (SEM/TEM):用于观察颗粒的形貌和结构,以补充粒度分析的结果。
激光粒度分析仪 (其他型号):与其他型号的粒度分析仪结合使用,进行方法验证和对比分析。
流变仪:研究颗粒在液体中的流动行为和相互作用。
Bettersizer S3 Plus激光粒度分析仪是一种高效的实验室设备,适用于多种科研应用,最大化其科研和工业应用的价值。
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