BRUKER D8 ADVANCE X射线衍射仪

 

BRUKER D8 ADVANCE X射线衍射仪是所有粉末衍射和散射应用的理想之选,测角仪配备由光学编码器控制的步进电机。新型高性能陶瓷管与传统玻璃管100%兼容。系统包括两个独立的X射线安全电路、具有最佳可见度的警示灯以及易于访问且符合人体工程学的控制装置。

BRUKER D8 ADVANCE X射线衍射仪

科研实验应用:1、材料科学:用于分析材料的晶体结构、相组成和性能,广泛应用于金属、陶瓷和聚合物等领域;2、化学和催化:研究催化剂的晶体结构和相变,分析化学反应中产生的固体产物;3、固态物理:研究晶体的物理性质,如电子、光学和热学特性;4、矿物和地质研究:分析矿物样品的矿相组成,了解地质过程和矿产资源。

BRUKERD8ADVANCEXX射线衍射仪技术参数:

功能 规格 优势
TRIO光路和TWIN光路 软件按钮切换: 马达驱动发散狭缝(BB几何); 高强度Ka1,2平行光束; 高分辨率Ka1平行光束; 专利:US10429326、US6665372、US7983389 可在多达6种不同的光束几何之间进行全自动化电动切换,无需人工干预

是所有类型的样品分析的理想之选,包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)

动态光束优化 动态同步: 马达驱动发散狭缝; 马达驱动防散射屏; 可变探测器窗口; 2Ɵ角度范围:小于1度至>大于150度 数据几乎不受空气、仪器和样品架散射的影响; 大大提高了检测下限,可定量分析少量晶相和非晶相 在较小的2θ角度,具有无与伦比的性能,可对粘土、药物、沸石、多孔材料及其他材料进行精确研究
LYNXEYEXE-T 能量分辨率:<380eV@8KeV

检测模式:0D、1D、2D

波长:Cr、Co、Cu、Mo和Ag

专利:EP1647840、EP1510811、US20200033275

无需Kß滤波片和二级单色器

铜辐射即可100%过滤铁荧光

速度比传统探测器系统快450倍

BRAGG2D模式:使用发散的初级线束收集2D数据

独一无二的探测器保证:交货时绝无坏道

EIGER2R
Dectris公司开发的基于混合光子计数技术的新一代探测器,支持多种模式(0D/1D/2D) 在步进扫描、连续扫描和高级扫描模式中无缝集成0D、1D和2D检测

符合人体工程学的免对准探测器旋转功能,可优化γ或2Ɵ角度范围

使用完整的探测器视野、免工具全景衍射光束光学系统 

连续可变的探测器位置,以平衡角度范围和分辨率

旋转光管 在线焦斑和点焦斑应用之间轻松快捷地进行免对准切换 无需断开电缆或水管,无需拆卸管道

DAVINCI设计:全自动检测和配置聚焦方向

自动进样器 FLIPSTICK:9个样品

AUTOCHANGER:90个样品

在反射和透射几何中运行
D8测角仪 带独立步进电机和光​​学编码器的双圆测角仪 布鲁克独有的准直保证,确保了无与伦比的准确性和精确度

绝对免维护的驱动机构/齿轮装置,终身润滑

非环境条件 温度:从~85K到~2500K

压力:10-⁴mbar至100bar

湿度:5%至95%

在环境和非环境条件下进行研究

DIFFRAC设计助您轻松更换样品台

BRUKER D8 ADVANCE X射线衍射仪使用方法:

  1. 设备检查与准备:确保X射线衍射仪处于良好状态,检查电源、冷却系统及真空系统。
  2. 样品准备:将待分析样品制备成均匀的粉末或薄膜,确保样品表面平整。
  3. 样品加载:将样品放置于样品台,确保固定牢固并正确对准。
  4. 设置实验参数:根据样品类型设定衍射角(2θ)、扫描范围和扫描速度。
  5. 真空系统启动:启动真空泵,确保样品室内达到所需真空度,通常为10^-6 mbar。
  6. X射线源启动:启动X射线源,设定合适的电压和电流参数。
  7. 进行衍射扫描:启动数据采集程序,开始进行衍射扫描,实时监控数据采集过程。
  8. 数据分析:使用内置软件处理和分析收集到的衍射数据,包括识别峰值、计算晶格常数和相分析。
  9. 保存和记录:保存分析结果和图谱,记录实验条件和样品信息,以便后续参考。
  10. 关闭设备:实验结束后,停止数据采集,关闭X射线源和真空系统,最后关闭设备电源。
  11. 样品处理:取出样品并进行必要的清理和保存。

BRUKER D8 ADVANCE X射线衍射仪有哪些实验室在用:

  • 西北工业大学材料学院:用于表征航空航天复合材料的相结构变化
  • 哈尔滨工业大学材料科学与工程学院:应用于分析锂电池正极材料的晶体结构
  • 中国矿业大学材料科学与工程学院:用于表征新型矿物复合材料的晶体学特征
  • 中国科学院软件研究所:应用于分析微纳电子器件薄膜材料的晶相
  • 中国科学院金属研究所:用于表征新型金属基功能材料的晶体结构

BRUKER D8 ADVANCE X射线衍射仪售后服务支持:

  • 建立遍布全国的售后服务网点和技术支持团队。
  • 提供7×24小时的故障报修热线,确保快速响应。
  • 派遣经验丰富的工程师进行现场安装指导,对设备关键性能参数进行严格的系统调试。
  • 用户可以选择购买延长保修服务,以便在保修期后继续获得保护。
  • 提供原厂认证的备件,确保设备的性能和可靠性。
  • 帮助用户管理和订购必要的耗材,确保实验的顺利进行。

相关产品:

扫描电子显微镜 (SEM):用于观察样品的表面形貌和微观结构,结合XRD结果进行综合分析。

能谱仪 (EDS):在SEM中使用,进行元素分析,帮助解释XRD结果。

差示扫描量热仪 (DSC):分析材料的热特性,与XRD结果结合研究相变行为。

傅里叶变换红外光谱仪 (FTIR):结合使用,分析样品的化学组成和官能团信息。

拉曼光谱仪:用于材料的分子结构分析,与XRD结果互补。

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