Hitachi SU5000热场式场发射扫描电镜

 

SU5000热场式场发射扫描电镜允许在高真空和可变压力模式之间进行简单的切换。样品室可容纳大型样品（-200mmφ，-80mmH）。使用无场光学元件和可变压力轻松对任何类型的样品进行成像，最多可同时提供4个信号，3D MultiFinder工具，使样品可以轻松倾斜和旋转，影像依然保持居中和聚焦。

科研实验应用：1、材料科学：用于研究金属、陶瓷、聚合物及复合材料的微观结构和成分；2、纳米技术：适用于纳米材料的形貌观察和特性分析，研究纳米结构的性能；3、生物医学：对生物样品（如细胞、组织切片）进行观察，分析其微观结构；4、半导体行业：用于集成电路和半导体材料的缺陷分析和成分鉴定；5、化学研究观察化学反应的微观过程，分析催化剂的结构和性能。

Hitachi SU5000热场式场发射扫描电镜技术参数：

• 分辨率：1.2nm30kV（SE）；3.0nm@1kV（SE）；2.0nm01kV(SE)减速模式（选配1）；3.0nm@15kV（BSE）低真空模式（选配2）
• 放大倍率：10～600，000×（底片倍率），18～1，000，000×（800×600像素）/30～1，500.000×（1.280×960像素）
• 电子光学系统
• 电子枪：Zro/w肖特基式电子枪
• 加速电压：0.5~30kV(0.1kV步进)
• 着陆电压：减速模式：0.1～2.0kV（*选配1）
• 束流：>200nA
• 探测器：低位二次电子探测器
• 低真空模式（选配2)：真空范围：10～300Pa
• 马达台：马达台控制：5轴自动（优中心）
• 可动范围：Z：0～100mm；Y：0~50mm；Z：3～65mm；T：-20～90°；R：360°
• 最大样品尺寸：最大直径：200mm；最大高度：80mm
• 显示器：23寸LCD（1，920×1，080像素）
• 显示模式：标准显示：1，280×960像素；缩小显示：800×600像素；双屏显示：640×480像素；四屏显示：640×480像素
• 图像数据：保存像素640×480.1,280×960,2,560×1,920,5,120×3,840
• 主机：740(W)x1,000(D)x1,650(H)mm550kg
• 操作台：1,100(W)×1,120(D)×730(H)mm290kg
• 机械泵（选配3）：526(W)x225(D)x306(H)mm28kg
• 空压机（选配3）：400（W）x230（D）x520（H）mm18kg
• 防震重块：200(W)x180(D)×160(H)mm40kg
• 选配探测器：高分辨率顶位二次电子探测各（选配1）、高灵敏度低真空探测器（UVD）、5分割半导体探测器（PD—BSD（选配2）、能谱仪（EDS）、波谱仪（WDS）、背散射电子衍射探测器（EBSD）

Hitachi SU5000热场式场发射扫描电镜使用方法：

1. 设备检查：检查电镜的电源、真空系统和冷却系统，确保设备正常工作。
2. 样品准备：根据样品类型进行适当的处理（如镀金、涂层），确保样品适合观察。
3. 样品安装：将样品固定在样品台上，确保样品表面平整且与电子束垂直。
4. 设置参数：在控制软件中设置加速电压、束流和扫描模式，选择合适的探测器。
5. 启动设备：打开电源，启动真空泵，等待系统达到所需的真空度。
6. 观察与成像：调整焦距、增益和扫描速度，观察样品并获取图像。
7. 数据记录：保存图像和数据，记录观察到的特征和参数。
8. 样品清理：结束观察后，清除样品台，准备下一个样品。
9. 定期维护：定期检查和维护设备，确保长期稳定运行。

Hitachi SU5000热场式场发射扫描电镜有哪些实验室在用：

• 华中科技大学材料科学与工程学院特征分析中心：应用于先进陶瓷和金属基复合材料的微观表征
• 南京大学材料科学与工程系微观分析实验室：用于电磁功能材料、智能材料的微观结构表征
• 中南大学材料科学与工程学院分析测试中心：应用于能源材料、生物医用材料的微结构分析
• 中国科学院物理研究所材料分析中心：主要用于先进功能材料的微结构表征分析
• 北京大学材料科学与工程学院电子显微实验室：应用于新型纳米材料和薄膜材料的表面形貌观察
  

Hitachi SU5000热场式场发射扫描电镜售后服务支持：

• 主机标配一定期限整机质保，保修期内免费提供维修和备件更换，对于关键部件如电子枪提供延长质保选择。
• Hitachi派遣经过专业培训的工程师上门，提供设备安装调试、定期检查维护等服务。
• 设有7x24小时的技术支持热线和在线服务，工程师可通过远程连接进行设备诊断。
• 提供SU5000系列全套正品配件和耗材，确保用户能及时购买到所需的维修零件。
• 定期组织SU5000扫描电镜的操作培训课程，内容包括仪器使用、图像采集、数据处理等。
• 根据客户需求提供硬件和软件升级改造方案，帮助用户提升设备性能,满足新的研究需求。

相关产品：

透射电子显微镜 (TEM)：用于更详细的微观结构分析，结合SEM进行全面研究。

X射线衍射仪 (XRD)：分析材料的晶体结构，提供与SEM结果互补的信息。

能谱仪 (EDS)：与SEM联用，进行元素成分分析，获取样品的化学信息。

扫描探针显微镜 (SPM)：用于纳米尺度的表面形貌和物性研究。

激光粒度分析仪：用于分析样品颗粒大小分布，与SEM结合进行材料特性分析。