Agilent 4156C精密半导体参数分析仪

 

Agilent 4156C提供1fA和0.2mV的测量分辨率,适合进行高精度的半导体器件特性分析,具备4个高分辨率源测量单元(SMU)、2个电压源单元(VSU)和2个电流源单元(VMU),支持多种测量模式,包括I-V和C-V特性测试。配备Desktop EasyEXPERT软件,提供直观的图形用户界面。

Agilent 4156C精密半导体参数分析仪

科研实验应用:1、半导体器件表征:用于测量和分析各种半导体器件的电气特性,如二极管、晶体管和集成电路;2、材料科学研究:在材料科学领域,分析新型半导体材料的电气特性和性能;3、光电器件测试:用于光电器件(如光伏电池和LED)的性能评估;4、纳米技术:在纳米器件的开发中,进行精确的电流和电压测量。

Agilent 4156C精密半导体参数分析仪技术参数:

电压范围、分辨率和精度(HRSMU):

范围、设定分辨率、设定精度、测量分辨率、测量精度、最大电流

  • ±2V、100μV、±(0.02%+400μV)、2μV、±(0.01%+200μV)、100mA
  • ±20V、1mV、±(0.02%+3mV)、20μV、±(0.01%+1mV)、100mA
  • ±40V、2mV、±(0.025%+6mV)、40μV、±(0.015%+2mV)、100mA(Vout≤20V)/50mA(20V)±100V、5mV±(0.03%+15mV)、100μV、±(0.02%+5mV)、100mA(输出电压≤20V)/50mA(20V)

当前量程、分辨率和精度(HRSMU):

  • ±10pA、10fA、±(4%+400fA)、1fA、±(4%+20fA+1fA×Vout/100)、100V
  • ±100pA、10fA、±(4%+400fA)、1fA、±(4%+40fA+10fA×Vout/100)、100V
  • ±1nA、100fA、±(0.5%+0.7pA+1fA×Vout)、10fA、±(0.5%+0.4pA+1fA×Vout)、100V
  • ±10nA,1pA,±(0.5%+4pA+10fA×Vout),10fA,±(0.5%+2pA+10fA×Vout),100V
  • ±100nA,10pA,±(0.12%+40pA+100fA×Vout),100fA,±(0.1%+20pA+100fA×Vout),100V
  • ±1μA,100pA,±(0.12%+400pA+1pA×Vout),1pA,±(0.1%+200pA+1pA×Vout),100V
  • ±10μA,1nA,±(0.07%+4nA+10pA×Vout),10pA,±(0.05%+2nA+10pA×Vout),100V
  • ±100μA,10nA,±(0.07%+40nA+100pA×Vout),100pA,±(0.05%+20nA+100pA×Vout),100V
  • ±1mA,100nA,±(0.06%+400nA+1nA×Vout),1nA,±(0.04%+200nA+1nA×Vout),100V
  • ±10mA、1μA、±(0.06%+4μA+10nA×Vout)、10nA、±(0.04%+2μA+10nA×Vout)、100V
  • ±100mA、10μA、±(0.12%+40μA+100nA×Vout)、100nA、±(0.1%+20μA+100nA×Vout)、100V(Iout≤20mA)/40V(20mA)

电压/电流顺应性(限流):

  • SMU可限制输出电压或电流,以防止损坏被测器件
  • 电压:0V至±100V
  • 电流:±100fA至±100mA
  • 顺应性精度:与电流(电压)稳定精度相同

Agilent 4156C精密半导体参数分析仪使用方法:

  1. 设备准备:确保Agilent 4156C连接电源并开启,检查所有连接是否正常。
  2. 样品准备:将待测样品放置在测试夹具中,确保接触良好。
  3. 设置参数:在Desktop EasyEXPERT软件中设定所需的测量参数,包括电压、电流范围和测量模式。
  4. 选择测量模式:根据实验需求选择I-V或C-V测量模式。
  5. 开始测量:启动测量程序,仪器将自动进行测量并记录数据。
  6. 数据分析:测量完成后,使用软件分析记录的数据,生成测试报告。

Agilent 4156C精密半导体参数分析仪哪些实验室在用:

  1. 清华大学:用于半导体器件的电气特性测试和材料研究。
  2. 北京大学:在光电器件的性能评估中进行应用。
  3. 复旦大学:用于新型半导体材料的特性分析。
  4. 华南理工大学:在纳米技术研究中进行器件建模和测试。
  5. 南京大学:用于半导体物理课程的实验教学。
  6. 中山大学:在材料科学研究中分析材料的电气特性。

Agilent 4156C精密半导体参数分析仪售后服务支持:

  • 服务内容:提供专业的安装和调试服务,确保设备正常运行。
  • 定期维护:建议每年进行一次全面的维护,包括硬件检查和软件更新。
  • 校准服务:按照国际标准对设备进行校准,保证测试结果的准确性。
  • 热线支持:提供24小时技术热线,解决用户在使用过程中遇到的技术问题。
  • 在线支持:通过邮件和在线聊天工具提供技术咨询。
  • 原厂配件:提供原厂认证的配件和耗材,确保设备的长期稳定运行。
  • 用户培训:为操作人员提供设备使用和维护的培训,确保用户熟练掌握操作技能。
  • 定期研讨会:定期举办用户交流会,分享最佳实践和最新技术。

相关产品:

示波器:用于观察和分析电压和电流波形,结合Agilent 4156C进行动态特性测试。

频谱分析仪:用于高频特性测试,配合参数分析仪进行综合性能评估。

电化学工作站:用于电化学特性测试,结合Agilent 4156C进行材料的电化学分析。

热重分析仪(TGA):用于材料的热稳定性测试,结合电气特性数据进行综合分析。

X射线衍射仪(XRD):用于材料的晶体结构分析,结合电气特性数据进行深入研究。

激光粒度仪:用于测量颗粒的大小分布,结合Agilent 4156C进行材料特性分析。

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