LINSEIS Linseis Chip-DSC 1差示扫描量热仪
Chip-DSC 1差示扫描量热仪创新的芯片布置采用化学惰性陶瓷设计,配有金属加热器和温度传感器,400°C达到高达 200°C/min的冷却速度,使用弹道冷却仅需4分钟即可从400°C冷却至30°C,简化工作流程。直观的软件,使用用户友好的软件轻松进行设置、数据采集和分析。
科研实验应用:1、材料科学:用于研究材料的相变、熔融、结晶和玻璃转变等热性质;2、聚合物研究:分析聚合物的热性能,如熔融温度、热分解温度和热容变化,帮助优化材料性能;3、食品科学:评估食品的热特性,研究成分的熔融和结晶行为,支持食品品质控制和开发;4、制药行业:用于药物的热性质分析,帮助研究药物的稳定性、溶解性和释放特性。
LINSEIS Chip-DSC 1差示扫描量热仪参数:
- 温度范围:室温至450°C
- 加热/冷却速率:0.001至100K/min
- 温度精度:±0.2K
- 温度精度:±0.02K
- 数字分辨率:1680万点
- 分辨率:0.03µW
- 气氛:惰性、氧化性(静态、动态)
- 测量范围:±2.5至±1000mW
LINSEIS Chip-DSC 1差示扫描量热仪使用方法:
- 设备准备:确保仪器放置在稳定的工作台上,连接电源和计算机,并进行必要的预热。
- 样品准备:根据实验需求准备待分析样品,确保样品量适中且均匀(通常为几毫克)。
- 样品放置:将样品放置在量热仪的样品盘上,确保放置准确,避免样品在测试期间移动。
- 设置实验参数:通过控制软件设置所需的温度范围、升温速率和气氛(如氮气或空气)等实验条件。
- 启动实验:启动设备,开始数据采集,实时监控实验进程,并记录热流变化。
- 数据分析:实验结束后,通过软件对数据进行处理,生成热流图谱和相关热特性报告。
- 清洁与维护:使用后定期清洁样品盘和其他部件,保持设备的良好状态,以确保下次使用的准确性。
LINSEIS Chip-DSC 1差示扫描量热仪有哪些实验室在用:
- 中国科学院化学研究所:从事化学合成、材料研究等
- 北京大学化学学院:学院的化学实验室进行热分析实验
- 清华大学材料学院:学院的材料实验室涉及使用差示扫描量热仪开展材料热性能测试
- 复旦大学高分子科学系:从事高分子材料研,进行热分析表征
- 浙江大学材料科学与工程学院:学院的材料实验室开展相关实验研究
- 中国科学技术大学化学与材料科学学院:学院实验室需要使用差示扫描量热仪进行材料热分析
- 华南理工大学高分子科学与工程学院:学院的高分子材料实验室进行热性能测试
LINSEIS Chip-DSC 1差示扫描量热仪售后服务支持:
- 质保期:整机提供标准年限质保期,在此期间如出现质量问题可免费维修或更换。
- 维修服务:超过质保期后,公司仍提供专业的维修服务。
- 用户可以与服务团队联系,由经验丰富的工程师上门诊断和维修设备。
- 备件供应:确保Chip-DSC 1所有关键备件的长期供应,用户可随时购买所需零件。
- 技术支持:设有专门的技术支持热线,用户可随时咨询仪器使用中的各种问题,获得专业指导和建议。
- 培训服务:为新用户提供Chip-DSC 1的操作培训,确保用户掌握正确的使用方法。
- 远程支持:工程师可通过远程连接的方式,协助用户诊断和排查设备故障。
- 升级改造:可为用户提供Chip-DSC 1的软硬件升级服务,以提升仪器性能。
- 应用支持:拥有丰富的应用经验,可为用户提供样品制备、数据分析等应用层面的指导。
相关产品:
热重分析仪 (TGA):研究材料在加热过程中的质量变化,评估热稳定性和分解特性。
傅里叶变换红外光谱仪 (FTIR):分析样品的化学组成和结构,提供补充的化学信息。
动态机械分析仪 (DMA):评估材料的力学性能和粘弹性行为,补充热分析数据。
差热分析仪 (DTA):提供与 DSC 类似的热分析,但用于研究不同的热行为。
X射线衍射仪 (XRD):用于分析材料的晶体结构,提供补充的晶相信息。
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