大展 DZ3320C差热分析仪
DZ3320C差热分析仪的温度范围为室温至1500℃,适合多种高温实验。DTA灵敏度为0.01μV,能够精确测量样品与参比物之间的温度差。采用STM32系列控制器,运算处理速度快,温度控制精确。配备7寸24位色全彩LCD触摸屏,操作界面直观,支持USB双向通信,方便数据传输和设备控制。

科研实验应用:1、材料科学:用于研究材料的相变、熔化、结晶等热性质;2、化学反应监测:监测化学反应中的热效应,如放热或吸热反应;3、食品科学:研究食品在加热过程中的物理和化学变化;4、高分子材料:研究聚合物的热性能,评估其在不同温度下的行为;5、无机材料研究:用于无机材料的热分析,了解其热稳定性和反应特性。
大展 DZ3320C差热分析仪技术参数:
| 温度范围 | 室温~1500℃ |
| 量程范围 | 0~±2000μV |
| DTA灵敏度 | 0.01μV |
| DTA精度 | 0.1uV |
| 升温速率 | 0.1~100℃/min |
| 温度分辨率 | 0.01℃ |
| 温度准确度 | ±0.1℃ |
| 温度重复性 | ±0.1℃ |
| 温度控制 | 升温:程序控制可根据需要进行参数的调整恒温:程序控制恒温时间任意设定 |
| 炉体结构 | 炉体采用上开盖式结构,代替了传统的升降炉体,精度高,易于操作 |
| 气氛控制 | 内部程序自动切换 |
| 数据接口 | 标准USB接口配套数据线和操作软件 |
| 显示方式 | 24bit色,7寸LCD触摸屏显示 |
| 参数标准 | 配有标准物,带有一键校准功能,用户可自行对温度进行校正 |
| 基线调整 | 带有基线调整功能,扣除基线的影响 |
| 工作电源 | AC220V 50Hz(可定制其它规格) |
大展 DZ3320C差热分析仪使用方法:
- 设备准备:确保设备连接电源并进行自检,检查各部件状态。
- 样品准备:将待测样品放置在样品槽中,确保其固定。
- 设置参数:根据实验需求设置温度范围、升温速率等参数。
- 启动测量:启动设备,开始测量过程,监控温度变化。
- 数据记录:测量完成后,记录数据并进行分析。
- 结果分析:根据差热分析曲线,分析样品的热性质和相变特性。
大展 DZ3320C差热分析仪哪些实验室在用:
- 清华大学:用于材料科学研究中的热分析。
- 北京大学:在药物开发中进行热性质测试。
- 华南理工大学:研究高分子材料的热性能。
- 浙江大学:用于无机材料的热稳定性分析。
- 上海交通大学:在食品科学领域进行热分析。
- 中国科学院:进行化学反应监测和分析。
大展 DZ3320C差热分析仪售后服务支持:
- 服务内容:提供专业的安装和调试服务,确保设备正常运行。
- 定期维护:建议每年进行一次全面的维护,包括硬件检查和软件更新。
- 校准服务:按照国际标准对设备进行校准,保证测试结果的准确性。
- 热线支持:提供24小时技术热线,解决用户在使用过程中遇到的技术问题。
- 在线支持:通过邮件和在线聊天工具提供技术咨询。
- 原厂配件:提供原厂认证的配件和耗材,确保设备的长期稳定运行。
- 用户培训:为操作人员提供设备使用和维护的培训,确保用户熟练掌握操作技能。
- 定期研讨会:定期举办用户交流会,分享最佳实践和最新技术。
相关产品:
差示扫描量热仪 (DSC):用于测量材料的热流变化,分析相变特性。
热重分析仪 (TGA):用于测量材料在加热过程中的质量变化。
显微镜:用于观察样品的微观结构,辅助热分析结果。
电子天平:用于精确称量待测样品。
气相色谱仪:用于分析化学反应中的气体产物。
红外光谱仪:用于分析样品的化学成分和结构变化。
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