SINOWON中旺 Micromea443三坐标测量仪

 

Micromea443三坐标测量仪采用进口开放式线性比例，分辨率高达0.1微米，具备四轴数控功能，能够实现全自动循环控制，自动完成测量过程，采用大理石基座和支柱，提供稳定可靠的测量基础，避免因设备振动导致的测量误差。支持多种传感器，包括触摸探头和激光探头，适应不同测量需求。

科研实验应用：1、电子行业：用于电子元件的尺寸和形状测量，确保产品符合设计标准；2、LCD制造：用于液晶显示器组件的测量，确保各部件的精确配合；3、航空航天：在航空航天领域中，进行复杂零件的高精度测量；4、汽车工业：用于汽车零部件的测量；5、材料科学：在材料研究中，进行样品的几何形状和尺寸测量，以支持材料性能分析。

SINOWON中旺 Micromea443三坐标测量仪技术参数：

产品名称		复合式三坐标测量仪
型号		Micromea443
货号#		528-130
X/Y轴行程		400x400mm
Z轴行程		300mm
X/Y/Z 3轴光栅尺		分辨率：0.1um
导向方式		精密直线导轨，双轨双滑块导向
操作方式		遥控手柄，鼠标操作，编程自动检测
测头系统		TP20和MCR20测头交换架
测量精度		XY轴：≤2+L/200(um)
		Z轴：≤3+L/200(um)
重复性		±1.8um
视频系统		1/1.8"彩色CCD相机
放大倍数		6.5X自动变倍镜头；光学放大倍数：0.7X-4.5X，视频放大倍率：20X~129X（21.5“显示器）
光源	轮廓光	LED平行轮廓光源
	表面光	5环8区0~255级连续可调
软件系统		Rational Vue MS
机台承载		30Kg
工作环境		温度20℃±2℃，温度变化<2℃/hr，湿度30~80%，振动<0.002g，低于15Hz
电源		220V/50Hz/10A
外形尺寸		1600x1050x1650mm
包装尺寸		1800x1400x2000mm
重量		1380Kg

SINOWON中旺 Micromea443三坐标测量仪使用方法：

1. 设备准备：确保设备连接电源并进行自检，检查各部件状态。
2. 样品放置：将待测样品固定在测量平台上，确保其位置正确。
3. 设置测量参数：根据样品特性和测量需求设置相关参数。
4. 选择测量模式：根据需要选择合适的测量模式（如自动测量或手动测量）。
5. 启动测量：启动设备，开始测量过程，监控测量状态。
6. 数据记录与分析：测量完成后，记录数据并进行分析，生成测量报告。

SINOWON中旺 Micromea443三坐标测量仪哪些实验室在用：

• 清华大学：用于电子元件的精密测量。
• 北京大学：在材料科学研究中进行样品测量。
• 华南理工大学：用于医疗设备的尺寸测量。
• 浙江大学：在航空航天领域进行复杂零件的测量。
• 上海交通大学：用于汽车零部件的质量控制。
• 中国科学院：在液晶显示器制造中进行组件的测量。

SINOWON中旺 Micromea443三坐标测量仪售后服务支持：

• 电话与在线支持：提供专业的技术咨询，解答用户在操作和维护过程中遇到的问题。
• 现场服务：技术人员可根据需要到现场进行设备检查和故障排除。
• 故障诊断与维修：快速响应用户的维修请求，进行故障诊断和必要的维修。
• 更换零部件：提供原厂零部件的更换服务，确保设备的稳定性和长期使用。
• 操作培训：为用户提供设备操作培训，确保用户能够熟练使用仪器。
• 固件与软件升级：定期提供软件和固件的更新服务，以保证设备功能的最新和最佳性能。
• 用户手册：提供详细的用户手册和操作指南，帮助用户更好地理解和使用设备。
• 技术文献：提供相关的应用文献和案例分析，支持用户的研究和开发工作。

相关产品：

光学测量仪：用于对样品表面进行光学特性分析。

激光测距仪：用于快速测量样品的距离和尺寸。

硬度计：用于测量材料的硬度，确保材料性能符合标准。

电子天平：用于精确称量待测样品。

显微镜：用于观察样品的微观结构，辅助测量分析。

切割机：用于准备样品，确保其符合测量要求。