WALE FD表面形貌测量仪

 

WALE FD表面形貌测量仪专为高精度零件的微观形貌分析设计，测量范围X轴120-220mm，能够精准测量纳米级至微米级的表面特征。采用接触式传感器技术，确保测量结果的可靠性和准确性。设备的导轨、机台和软件均经过优化升级，提升了整体性能，适用于多种材料和表面形貌的测量。

科研实验应用：1、材料科学：用于分析材料的表面特性和微观结构；2、电子工程：测量电子元件的表面粗糙度和形状；3、机械工程：在机械零件的质量控制中进行表面形貌测量；4、生物医学：测量生物材料的表面特性；5、纳米技术：在纳米材料研究中进行高精度表面分析；6、航空航天：测量航空部件的表面质量。

WALE FD表面形貌测量仪技术参数：

• 测量范围X轴：120-220mm
• X轴分辨率：1.2nm
• Z轴：420、620mm可选
• Z1轴量程：30-60mm
• Z1分辨率：1.2nm Z1
• 线性精度：≤±(0.5+|0.02H|)μm
• 圆弧：士(1+R/12)μm
• 圆弧Pt：<0.3μm
• 角度：±1
• 直线度：0.3um/100mm（截止波长0.8）
• X轴驱动方式：电动
• Y轴驱动方式：电动
• 最快测量速度：2mm/s
• 大理石尺寸：500mm X 800mm
• 台面材质：天然大理石

WALE FD表面形貌测量仪使用方法：

1. 准备工作：确保仪器处于良好状态，检查电源和连接。
2. 样品放置：将待测样品放置在测量平台上，确保其稳定。
3. 设置参数：根据测量需求设置相关参数，如测量模式和分辨率。
4. 开始测量：启动仪器，使用控制面板进行测量。
5. 数据记录：记录测量结果，并进行必要的数据分析。
6. 后处理：清理仪器，保存数据并生成报告。

WALE FD表面形貌测量仪哪些实验室在用：

• 清华大学：用于材料表面特性分析。
• 北京大学：在电子元件的表面粗糙度测量中应用。
• 上海交通大学：测量机械零件的表面形貌。
• 华中科技大学：在生物材料研究中进行表面分析。
• 浙江大学：用于纳米材料的表面特性测量。
• 南方科技大学：测量航空航天部件的表面质量。

WALE FD表面形貌测量仪售后服务支持：

• 保修期：设备通常提供一定期限的保修期，涵盖制造缺陷和材料问题。
• 备件供应：确保常用备件的及时供应，减少设备停机时间。
• 软件更新：定期提供软件升级服务，添加新功能和修复已知问题。
• 硬件升级：可根据需求提供硬件升级服务，提升设备性能。
• 问题响应：针对客户反馈的问题，提供快速响应和解决方案。
• 保修范围：在保修期内，涵盖设备的材料和工艺缺陷。
• 在线资源：提供用户手册、操作指南和常见问题解答（FAQ）的在线访问。
• 满意度调查：定期进行客户满意度调查，收集反馈以改进服务质量。

相关产品：

激光扫描仪：用于快速获取物体的三维形状数据。

电子显微镜：用于观察材料的微观结构。

表面粗糙度仪：用于测量材料表面的粗糙度。

三坐标测量机：用于精确测量物体的三维坐标。

光学测量仪：用于高精度的光学特性测量。

X射线衍射仪：用于分析材料的晶体结构。