Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪

 

Thick800A X荧光镀层测厚仪采用全自动软件控制，支持多点测试，配备高精度移动平台，重复定位精度小于0.005mm，使用φ0.1mm的小孔准直器，能够满足微小测试点的需求。可同时分析30种以上元素，适用于多层镀层的厚度测量，镀层厚度一般在50μm以内。

科研实验应用：1、贵金属分析：用于黄金、白银、铂金等贵金属的镀层厚度测量；2、电子行业：在PCB制造中检测镀层厚度；3、电镀行业：用于电镀液和镀层含量的测定；4、材料科学：研究不同材料表面镀层的特性和性能；5、法医鉴定：在法医学中用于分析金属物品的镀层成分。

Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪技术参数：

• 型号：Thick800A
• 分析范围：从S到U
• 最多可同时分析24种元素或5层以上镀层
• 检测限：2ppm，分析含量：2ppm～99.9%
• 镀层厚度：最小0.005um，20um以内（因材料不同而不同）
• 微准直器（最小直径0.1mm），测试点（0.2mm以内）
• 高精度移动平台（位置精度：0.005mm以下）
• 任意多种可选分析、鉴别模型
• 独立的基体效应校正模型
• 多次分析重复性达0.05um（最外层Au在1um以下）
• 长期工作稳定性：0.1um（最外层Au在1um以下）
• 温度范围：15℃～30℃
• 电源：AC220V±5V，建议使用交流净化稳压电源
• 尺寸：576×495×545mm
• 重量：90kg

Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪使用方法：

1. 准备工作：确保仪器处于良好状态，连接电源并打开设备。
2. 样品准备：清洁待测样品表面，确保无油污和杂质。
3. 设置设备：根据样品类型选择合适的测试参数，并设置移动平台。
4. 启动测试：启动测试程序，仪器将自动进行样品分析。
5. 监控运行：在测试过程中，观察显示屏上的数据，确保无异常。
6. 结束测试：测试完成后，记录数据并保存结果。
7. 清洁设备：清洁探头和仪器外部，确保下次使用的卫生。

Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪哪些实验室在用：

• 中国科学院金属研究所：用于金属镀层的厚度检测。
• 清华大学材料科学与工程系：研究镀层材料的性能。
• 北京大学化学与分子工程学院：分析电镀液成分及镀层厚度。
• 复旦大学环境科学与工程系：检测环境样品中的金属镀层。
• 浙江大学电子科学与工程学院：用于PCB板的镀层厚度测试。
• 南方科技大学材料科学与工程系：研究新型镀层材料的特性。

Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪售后服务支持：

• 电话与在线支持：提供专业的技术咨询，解答用户在操作和维护过程中遇到的问题。
• 现场服务：技术人员可根据需要到现场进行设备检查和故障排除。
• 故障诊断与维修：快速响应用户的维修请求，进行故障诊断和必要的维修。
• 更换零部件：提供原厂零部件的更换服务，确保设备的稳定性和长期使用。
• 操作培训：为用户提供设备操作培训，确保用户能够熟练使用仪器。
• 固件与软件升级：定期提供软件和固件的更新服务，以保证设备功能的最新和最佳性能。
• 用户手册：提供详细的用户手册和操作指南，帮助用户更好地理解和使用设备。
• 技术文献：提供相关的应用文献和案例分析，支持用户的研究和开发工作。

相关产品：

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