CHOTEST中图 Mizar Silver系列三坐标测量机

 

Mizar Silver系列三坐标测量机采用低热膨胀花岗岩导轨系统，适合微米级别的精密测量。支持触发、扫描和非接触式探测系统，能够对各种零部件的尺寸、形状及相互位置关系进行检测。采用环抱式气浮支撑系统和高刚性传动系统，配备自主研发的运动控制器和测头测座系统，支持多种测量软件（如Power DMIS）。

科研实验应用：1、机械制造：用于零部件的尺寸和形状检测；2、汽车工业：在汽车零部件的生产过程中进行精密测量；3、电子工业：用于电子元件的尺寸检测和质量控制；4、航空航天：在航空器部件的制造和检验中，确保高精度的测量要求；5、国防工业：用于军事装备的精密测量。

CHOTEST中图 Mizar Silver系列三坐标测量机技术参数：

型号	行程范围（mm）			外形尺寸（mm）			主机重量（kg）	承重 （kg）
	X	Y	Z	LX	LY	LZ
Mizar Silver 575	500	700	500	1190	1505	2578	1100	600
Mizar Silver 686	600	800	600	1290	1655	2778	1300	600
Mizar Silver 6106	600	1000	600	1290	1855	2778	1400	700
Mizar Silver 7106	700	1000	600	1390	1855	2778	1500	800
Mizar Silver 8106	800	1000	600	1621	1990	2822	2200	1000
Mizar Silver 8126	800	1200	600	1621	2190	2822	2500	1100
Mizar Silver 8156	800	1500	600	1621	2390	2822	2700	1200
Mizar Silver 9126	900	1200	600	1721	2190	2822	2700	1200
Mizar Silver 10128	1000	1200	800	1821	2286	3022	3000	1200
Mizar Silver 10158	1000	1500	800	1821	2586	3012	3200	1500
Mizar Silver 10208	1000	2000	800	1821	3086	3042	4200	2000
Mizar Silver 10248	1000	2400	800	1821	3486	3042	4700	2000
Mizar Silver 10308	1000	3000	800	1821	4086	3042	5500	2000

CHOTEST中图 Mizar Silver系列三坐标测量机使用方法：

1. 准备工作：确保测量机放置在稳定的工作台上，并连接电源。
2. 样品准备：将待测样品固定在测量台上，确保其位置稳定。
3. 设置设备：打开测量机，选择合适的测量程序和参数。
4. 启动测量：启动测量程序，设备将自动进行测量。
5. 监控运行：在测量过程中，监控设备状态，确保无异常。
6. 结束测量：测量完成后，记录数据并保存。
7. 清洁设备：清洁测量台和探头，确保下次使用的卫生。

CHOTEST中图 Mizar Silver系列三坐标测量机哪些实验室在用：

• 中国科学院机械研究所：用于机械零部件的精密测量。
• 清华大学汽车工程系：进行汽车零部件的尺寸检测。
• 北京航空航天大学：用于航空器部件的精密测量。
• 复旦大学材料科学与工程系：测试新材料的尺寸和形状。
• 上海交通大学电子工程系：用于电子元件的质量控制。
• 南方科技大学机械工程系：进行机械制造过程中的精密测量。

CHOTEST中图 Mizar Silver系列三坐标测量机售后服务支持：

• 电话与在线支持：提供专业的技术咨询，解答用户在操作和维护过程中遇到的问题。
• 现场服务：技术人员可根据需要到现场进行设备检查和故障排除。
• 故障诊断与维修：快速响应用户的维修请求，进行故障诊断和必要的维修。
• 更换零部件：提供原厂零部件的更换服务，确保设备的稳定性和长期使用。
• 操作培训：为用户提供设备操作培训，确保用户能够熟练使用仪器。
• 固件与软件升级：定期提供软件和固件的更新服务，以保证设备功能的最新和最佳性能。
• 用户手册：提供详细的用户手册和操作指南，帮助用户更好地理解和使用设备。
• 技术文献：提供相关的应用文献和案例分析，支持用户的研究和开发工作。

相关产品：

激光测距仪：用于快速测量距离和尺寸。

影像测量仪：用于对复杂形状的零件进行影像检测。

三维扫描仪：用于获取物体的三维数据，辅助测量。

电子天平：用于精确称量样品。

热分析仪：用于评估材料在不同温度下的性能。

光学显微镜：用于观察样品的微观结构，辅助测量分析。