Olympus奥林巴斯 BX53P偏光显微镜
BX53P偏光显微镜采用UIS2无限远校正光学系统,提供卓越的成像质量和高对比度的偏光成像,配备六种不同的补偿器,能够测量0到20λ的各种延迟水平,适用于矿物和晶体的双折射测量。用U-CPA锥光观察附件,能够在锥光镜检和正像镜检之间快速切换,简化操作。偏振光用旋转载物台可倾斜45°,并配有锁紧装置。

科研实验应用:1、矿物鉴定:用于地质学研究中的矿物和岩石薄片的鉴定;2、晶体光学特性分析:分析晶体材料的光学特性,研究其双折射现象;3、材料科学研究:用于金属和非金属材料的微观结构分析;4、生物样品观察:在生物学研究中观察细胞和组织样品;5、化学分析:用于化学材料的偏光特性研究。
Olympus奥林巴斯 BX53P偏光显微镜技术参数:
| 光学部件 | 274(W)×436(D)×535(H)毫米 |
| 照射光源 | 透射光照明100W卤素灯泡壳(内置Koehler照明) |
| 观察方法 | 偏振光 |
| 简单的偏振光 | |
| 明场 | |
| 对焦机制 | 垂直阶段调整 |
| 物镜转换器 | 可拆式(4目标坐骑) |
| 阶段 | 偏振旋转舞台 |
| 观察管道 | 双目铰链式FN22倾斜角度30° |
| 倾斜双目FN22倾斜角度5-35°/FN22倾斜角度0-25° | |
| 三目铰链式FN22倾斜角度30° | |
| 超广角FN26°倾斜角24° | |
| 倾斜三目超广角/超广角FN26°倾斜角24° |
Olympus奥林巴斯 BX53P偏光显微镜使用方法:
- 样品准备:将待观察样品制备成薄片,确保其适合显微镜观察。
- 显微镜设置:打开显微镜电源,选择适当的物镜和目镜。
- 调整光源:根据样品类型调整光源强度,确保视野明亮。
- 样品放置:将样品放置在载物台上,确保其位置正确。
- 观察调整:通过旋转载物台和调节焦距,找到样品的最佳观察位置。
- 记录观察:使用图像采集系统记录观察结果,进行数据分析。
Olympus奥林巴斯 BX53P偏光显微镜哪些实验室在用:
- 清华大学材料科学与工程系:用于材料的微观结构分析。
- 北京大学地质学系:用于矿物和岩石薄片的鉴定。
- 上海交通大学生物医学工程学院:用于生物样品的观察和分析。
- 华中科技大学材料科学与工程学院:用于新材料的光学特性研究。
- 中山大学化学与化工学院:用于化学材料的偏光特性分析。
- 浙江大学地球科学学院:用于地质样品的研究和教学。
Olympus奥林巴斯 BX53P偏光显微镜售后服务支持:
- 服务内容:提供专业的安装和调试服务,确保设备正常运行。
- 定期维护:建议每年进行一次全面的维护,包括硬件检查和软件更新。
- 校准服务:按照国际标准对设备进行校准,保证测试结果的准确性。
- 热线支持:提供24小时技术热线,解决用户在使用过程中遇到的技术问题。
- 在线支持:通过邮件和在线聊天工具提供技术咨询。
- 原厂配件:提供原厂认证的配件和耗材,确保设备的长期稳定运行。
- 用户培训:为操作人员提供设备使用和维护的培训,确保用户熟练掌握操作技能。
- 定期研讨会:定期举办用户交流会,分享最佳实践和最新技术。
相关产品:
电子万能试验机:用于材料的力学性能测试,结合显微镜进行微观结构分析。
扫描电子显微镜(SEM):用于观察样品的表面形貌,提供更高分辨率的图像。
X射线衍射仪:用于分析材料的晶体结构,结合偏光显微镜进行综合研究。
热分析仪:用于材料的热性能测试,评估其在不同温度下的稳定性。
傅里叶变换红外光谱仪(FTIR):用于分析材料的化学成分变化。
图像分析软件:用于处理和分析显微镜图像,提取定量数据。
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