HORIBA XGT-9000 X射线荧光分析仪

 

HORIBA XGT-9000 X射线荧光分析仪具有荧光X射线和透射X射线两种检测器。可以同时获得同一区域的两种图像。高输出X射线发生器(高达 50kV和 1000µA)和多种探针点尺寸(低至10微米,高至 1.2毫米),可提供极致性能和灵活性。可安装多个探针,实现高质量快速成像,可选择15µm和100µm两种超高强度探针。

HORIBA XGT-9000 X射线荧光分析仪

科研实验应用:适用于聚合过程研究、材料分析。用于乙烯聚合催化剂分析、共聚单体和添加剂分析,测定EVA等共聚单体的组成比例、聚乙烯成分分析、、乙烯回收和循环利用研究、聚合过程监控和质量控制,在线监测聚合过程中催化剂和添加剂的元素变化。

HORIBA XGT-9000X射线荧光分析仪参数:

型号XGT-9000
基本信息
仪器微区X射线荧光分析仪
样品类型固体、液体、颗粒
检测元素轻元素检测器:C–Am
(常规检测器:F–Am)
样品仓尺寸450(W)x500(D)x80(H)
最大样品尺寸300(W)x250(D)x80(H)
样品最大质量1kg
光学观察两个带物镜的高分辨率相机
光学设计垂直同轴X射线和光学观察
样品照明/观察顶部、底部和侧向照明/明场和暗场
X-射线管
功率50W
电压最高50kV
电流最大1mA
靶材Rh
X射线光光学系统
X射线头数量最多配置四个
光谱优化初级X-射线滤光片;5个位置
检测器
荧光X-射线检测器硅漂移检测器(SDD)
透射X射线检测器NaI(Tl)
扫描分析
扫描范围100mmx100mm
步进尺寸2mm
运行模式
样品环境全真空/局部真空/大气环境/He吹扫(选配)

HORIBA XGT-9000 X射线荧光分析仪使用方法:

  • 固体样品可直接放置在样品台上进行测试。
  • 液体或粉末样品需要制成压样片或涂膜样品。
  • 将样品放置在XGT-9000的测试区域。
  • 选择合适的测试条件,如管电压、管电流、测试时间等。
  • 启动分析程序,获取样品的X射线荧光光谱数据。
  • 使用配套的分析软件对获得的光谱数据进行定性。
  • 确定样品中各种元素的种类及其含量。

HORIBA XGT-9000 X射线荧光分析仪有哪些实验室在用:

  • 中国科学院上海硅酸盐研究所功能材料重点实验室
  • 同济大学材料科学与工程学院功能材料重点实验室
  • 微电子学研究所分析实验中心
  • 武汉理工大学材料科学与工程学院分析中心
  • 华南理工大学材料科学与工程学院实验中心
  • 厦门大学材料科学与工程学院分析实验中心

HORIBA XGT-9000 X射线荧光分析仪售后服务支持:

  • HORIBA公司提供专业的维修服务团队,能够及时诊断和修复仪器故障。
  • 定期的预防性维护检查,确保仪器长期稳定、可靠运行。
  • 提供专业的维修保养培训,帮助用户自行进行日常保养。
  • 定期推出新版分析软件,提供更强大的数据处理和分析功能。
  • 提供专业的软件培训和技术支持,帮助用户熟练掌握软件使用。
  • 建立在线技术交流平台,及时解答用户提出的各类问题。
  • 提供专业的采购和物流服务,确保及时供货。

相关产品:

差热扫描量热仪(DSC):结合DSC数据分析聚合物的热性能。

红外光谱仪(FTIR):与FTIR联用分析聚合物的化学结构。

扫描电子显微镜(SEM):SEM-EDX结合分析聚合物的微观形貌和元素组成。

热重分析仪(TGA):TGA-FTIR联用分析热分解动力学和过程。

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