HORIBA XGT-9000 X射线荧光分析仪
HORIBA XGT-9000 X射线荧光分析仪具有荧光X射线和透射X射线两种检测器。可以同时获得同一区域的两种图像。高输出X射线发生器(高达 50kV和 1000µA)和多种探针点尺寸(低至10微米,高至 1.2毫米),可提供极致性能和灵活性。可安装多个探针,实现高质量快速成像,可选择15µm和100µm两种超高强度探针。
科研实验应用:适用于聚合过程研究、材料分析。用于乙烯聚合催化剂分析、共聚单体和添加剂分析,测定EVA等共聚单体的组成比例、聚乙烯成分分析、、乙烯回收和循环利用研究、聚合过程监控和质量控制,在线监测聚合过程中催化剂和添加剂的元素变化。
HORIBA XGT-9000X射线荧光分析仪参数:
型号 | XGT-9000 |
---|---|
基本信息 | |
仪器 | 微区X射线荧光分析仪 |
样品类型 | 固体、液体、颗粒 |
检测元素 | 轻元素检测器:C–Am (常规检测器:F–Am) |
样品仓尺寸 | 450(W)x500(D)x80(H) |
最大样品尺寸 | 300(W)x250(D)x80(H) |
样品最大质量 | 1kg |
光学观察 | 两个带物镜的高分辨率相机 |
光学设计 | 垂直同轴X射线和光学观察 |
样品照明/观察 | 顶部、底部和侧向照明/明场和暗场 |
X-射线管 | |
功率 | 50W |
电压 | 最高50kV |
电流 | 最大1mA |
靶材 | Rh |
X射线光光学系统 | |
X射线头数量 | 最多配置四个 |
光谱优化初级X-射线滤光片; | 5个位置 |
检测器 | |
荧光X-射线检测器 | 硅漂移检测器(SDD) |
透射X射线检测器 | NaI(Tl) |
扫描分析 | |
扫描范围 | 100mmx100mm |
步进尺寸 | 2mm |
运行模式 | |
样品环境 | 全真空/局部真空/大气环境/He吹扫(选配) |
HORIBA XGT-9000 X射线荧光分析仪使用方法:
- 固体样品可直接放置在样品台上进行测试。
- 液体或粉末样品需要制成压样片或涂膜样品。
- 将样品放置在XGT-9000的测试区域。
- 选择合适的测试条件,如管电压、管电流、测试时间等。
- 启动分析程序,获取样品的X射线荧光光谱数据。
- 使用配套的分析软件对获得的光谱数据进行定性。
- 确定样品中各种元素的种类及其含量。
HORIBA XGT-9000 X射线荧光分析仪有哪些实验室在用:
- 中国科学院上海硅酸盐研究所功能材料重点实验室
- 同济大学材料科学与工程学院功能材料重点实验室
- 微电子学研究所分析实验中心
- 武汉理工大学材料科学与工程学院分析中心
- 华南理工大学材料科学与工程学院实验中心
- 厦门大学材料科学与工程学院分析实验中心
HORIBA XGT-9000 X射线荧光分析仪售后服务支持:
- HORIBA公司提供专业的维修服务团队,能够及时诊断和修复仪器故障。
- 定期的预防性维护检查,确保仪器长期稳定、可靠运行。
- 提供专业的维修保养培训,帮助用户自行进行日常保养。
- 定期推出新版分析软件,提供更强大的数据处理和分析功能。
- 提供专业的软件培训和技术支持,帮助用户熟练掌握软件使用。
- 建立在线技术交流平台,及时解答用户提出的各类问题。
- 提供专业的采购和物流服务,确保及时供货。
相关产品:
差热扫描量热仪(DSC):结合DSC数据分析聚合物的热性能。
红外光谱仪(FTIR):与FTIR联用分析聚合物的化学结构。
扫描电子显微镜(SEM):SEM-EDX结合分析聚合物的微观形貌和元素组成。
热重分析仪(TGA):TGA-FTIR联用分析热分解动力学和过程。
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