Malvern Panalytical X'Pert³ Powde X射线衍射仪

 

X'Pert³ Powde X射线衍射仪配备全新机载控制电子设备，符合安全规范。RISP技术耐腐蚀入射智能光束路径。可防止X射线引起的电离空气在入射光束路径中造成腐蚀。硅基位置敏感线探测器，可配备点探测器或线探测器。X'Celerator拥有128个70µm通道。PIXcel1D 探测器具有256个55µm通道，提供卓越的分辨率、无与伦比的动态范围和高计数率线性度。

科研实验应用：适用于无机材料、有机材料、纳米材料、电子功能材料、能源材料、环境领域。用于陶瓷、玻璃、水泥等、无机非金属材料、金属及合金材料矿物和矿石材料、高分子材料、塑料、纳米粒子、纳米管、纳米薄膜、半导体材料、电池、燃料电池等储能材料、土壤、矿物等。

Malvern PANalytical X'Pert³PowdeX射线衍射仪参数：

外壳尺寸	1370（宽）x1131（深）x1972（高）毫米
外壳重量	1100公斤
外壳-安全	所有阳极材料均符合全球所有相关的电气、机械和X射线安全法规
测角仪配置	垂直测角仪，适用于θ-θ几何
测角仪-半径和界面	半径为240毫米，可提供接口来减少特定应用的衍射光束半径
测角仪-精度	直接光学编码定位系统(DOPS)，确保终身测角仪精度
测角仪-可用范围	最大可用范围（取决于配件）-40°<2θ<220°
测角仪-半径和界面	半径为240毫米，可提供接口来减少特定应用的衍射光束半径
X射线源-X射线管	全陶瓷X射线管由PANalytical的专业工厂在洁净室条件下制造
X射线源-发生器	3kW发电机支持所有当前和未来的X射线管
X射线源-耐用性	管壳不含铅。采用CRISP技术的专利设计。CRISP技术可防止X射线引起的电离空气在入射光束路径中造成腐蚀。

Malvern Panalytical X'Pert³ Powde X射线衍射仪使用方法：

• 将样品研磨成细小的粉末状，将粉末样品均匀地装填到样品池中。
• 开机并等待仪器预热，校准仪器的几何参数，如光路、样品位置等。
• 根据研究需求设置合适的扫描参数，如2θ角度范围、步长、扫描速度等。
• 启动数据采集程序，进行X射线衍射数据的自动测试。
• 使用配套的分析软件如X'Pert HighScore Plus对采集的数据进行处理。
• 通过软件的相匹配功能识别衍射峰对应的物相。
• 分析样品的晶体结构参数、含量等信息。
• 结合其他表征手段的结果，对XRD分析结果进行综合解释，得出材料的结构、组成、取向等特性。

Malvern Panalytical X'Pert³ Powde X射线衍射仪有哪些实验室在用：

• 中国科学院大连化学物理研究所
• 中国科学院广州化学研究所
• 中国科学院上海有机化学研究所
• 北京大学化学化工学院
• 武汉理工大学材料科学与工程学院
• 武汉大学材料科学与工程学院

Malvern Panalytical X'Pert³ Powde X射线衍射仪售后服务支持：

• 专业培训：针对仪器的操作、维护、数据分析等提供系统培训。
• 远程支持：通过远程连接提供技术支持和故障诊断。
• 现场服务：派遣专业工程师上门进行维修、检查、调试等。
• 备件供应：提供原厂的专业备件和耗材。
• 升级服务：根据客户需求提供软硬件的升级服务。

相关产品：

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