Kewell科威尔 MX700KGD系列芯片动静态筛选测试系统

 

MX700KGD系列芯片动静态筛选测试系统全覆盖，包括外观检测、高温或常温下的动静态测试。支持高压大电流测试，能够进行裸芯片的标称规格测试。系统寄生电感小于20nH，确保测试精度。测试UPH（每小时测试件数）可达600件以上。具备气体保护功能，防止测试过程中发生打火和氧化。系统的升降机构可自动校准芯片的高度，确保探针卡与芯片的良好接触。

科研实验应用：1、SiC MOSFET测试：用于评估SiC MOSFET芯片的性能和可靠性；2、IGBT芯片筛选：对IGBT芯片进行动静态测试，筛选合格产品；3、高温测试：在高温环境下测试芯片的性能，确保其在极端条件下的稳定性；4、电流电压特性测试：测量芯片的标称电流和电压，评估其电气特性。

Kewell科威尔 MX700KGD 系列芯片动静态筛选测试系统技术参数：

测试类型	测量参数		测试条件
turn off turn on	tdoff tf tff tZEoff VCEmax VCE IC dvCE/dt diC/dt	tdon tr ton diC/dt Eon VCE IC1 IC2 ICmax	VCC：50-1500V；IC：10-1 000A VGE _on：0.5-20V；VGE_off：0.5 -20V tswoff：1-100μs(tp：1-1000μs)
FWD Recovery	RM trr Qrr Erec dlrf/dt dlrr/dt Pfrd(max)		VCC：50-1500V；IC：10-1 000A VGE_on：0.5-20V；VGE_off：0.5 -20V tswoff：1-100μs tp：7-1000 μs
Short circuit	VCEmax ICmax VGEmax (during short circuit state not aturn on or off) Ic off diC/dt on diC/dt off VCC：50-1500V；ISCmax：2 000A VGE_on：0.5-20V；VGE_off：0.5-20V tp：1-20μs		VCC：50-1500V；ISCmax：2 000A VGE_on：0.5-20V；VGE_off：0.5 -20V tp：1-20μs

Kewell科威尔 MX700KGD 系列芯片动静态筛选测试系统使用方法：

1. 设备准备：检查设备的电源和连接，确保系统正常工作。
2. 样品准备：准备待测试的裸芯片，确保其符合测试标准。
3. 设置参数：在控制界面上设置测试电压、电流和温度等参数。
4. 启动设备：开启设备，等待设备达到设定的工作状态。
5. 进行测试：在设定的条件下进行测试，实时监控输出电压和电流。
6. 结束测试：测试结束后，关闭设备，整理数据并进行分析。

Kewell科威尔 MX700KGD 系列芯片动静态筛选测试系统哪些实验室在用：

• 清华大学：用于SiC MOSFET的性能测试，评估其在高温下的稳定性。
• 北京大学：应用于IGBT芯片的动静态测试，确保其符合行业标准。
• 复旦大学：进行裸芯片的外观检测和电气特性测试。
• 上海交通大学：用于新型功率器件的可靠性评估，推动材料研究。
• 中科院电工研究所：在基础研究中进行SiC和IGBT芯片的性能测试。
• 浙江大学：用于电力电子器件的筛选测试，确保其在实际应用中的可靠性。

Kewell科威尔 MX700KGD 系列芯片动静态筛选测试系统售后服务支持：

• 服务内容：提供专业的安装和调试服务，确保设备正常运行。
• 定期维护：建议每年进行一次全面的维护，包括硬件检查和软件更新。
• 校准服务：按照国际标准对设备进行校准，保证测试结果的准确性。
• 热线支持：提供24小时技术热线，解决用户在使用过程中遇到的技术问题。
• 在线支持：通过邮件和在线聊天工具提供技术咨询。
• 原厂配件：提供原厂认证的配件和耗材，确保设备的长期稳定运行。
• 用户培训：为操作人员提供设备使用和维护的培训，确保用户熟练掌握操作技能。
• 定期研讨会：定期举办用户交流会，分享最佳实践和最新技术。

相关产品：

高温测试箱：提供稳定的高温环境，确保测试条件的准确性。

示波器：实时监控和分析测试过程中的电压和电流，确保数据的准确性。

数据采集系统：用于记录和分析实验数据，提高实验效率。

电源测试仪：用于测试电源的性能，确保其在高温条件下的稳定性。

环境监测仪：监测实验环境中的温度和湿度，确保测试条件的稳定性。

热成像仪：用于实时监测芯片的温度分布，确保测试的全面性和准确性。