WAYES-VAC CL-4/6/8中端探针台

WAYES-VAC中端探针台支持多种尺寸的样品测试，通常包括4英寸、6英寸和8英寸的规格，探针台具备高精度的移动系统，能够实现微米级的定位，可放置多个探针座，通常支持最多6个探针座，适合多通道测试。可与高倍率金相显微镜等设备兼容，支持多种测试模式，如I-V/C-V测试和光电测试。

科研实验应用：1、半导体测试：用于测试半导体器件的电气特性，包括微处理器、存储器等；2、材料科学：研究新材料的电气性能，评估其在实际应用中的表现；3、光电器件测试：用于光电器件的性能测试，帮助优化设计和工艺；4、纳米技术研究：在纳米尺度上进行材料特性分析，推动纳米技术的发展；5、集成电路测试：在集成电路的研发和生产过程中进行电气特性测试。

WAYES-VAC中端探针台技术参数：

台体：

型号：CL-4/CL-6/CL-8
尺寸：4英寸/6英寸/8英寸
水平旋转：可360度旋转，可微调15度，精度0.1度，带角度锁死装置
X-Y移动行程：4英寸*4英寸/6英寸*6英寸
X-Y移动精度：10微米/1微米
样品固定：真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附环
针座平台：最多可放置4个探针座/最多可放置6个探针座
背电极测试：样品台电学独立悬空，4mm插孔可接背电极

显微镜：

显微镜类型：单筒显微镜/体式显微镜/金相显微镜
放大倍率：16X-200X/20X-4000X
移动行程：X—Y轴行程2英寸*2英寸，Z轴行程50.8mm
光源：外置LED环形光源/同轴光源
CCD：200万像素/500万像素/1200万像素

探针座：

X-Y-Z移动行程：12mm*12mm*12mm
移动精度：10微米/2微米/0.7微米/0.5微米
吸附方式：磁力吸附/真空吸附
线缆：同轴线/三轴线探针夹具
漏电精度：10pA/100fA/10fA
固定探针：弹簧固定/管状固定
接头类型：BNC/三轴/香蕉头/鳄鱼夹/接线端子

探针：

针尖直径：0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米
材质：钨钢/铍铜
外形：400mm长*400mm宽*600mm/高580mm长*480mm宽*600mm高
重量：约40千克/约60千克

WAYES-VAC中端探针台使用方法：

设备准备：确保探针台连接到电源，并检查所有电气和通信接口是否正常。
样品准备：根据实验需求准备待测试的样品，确保其表面清洁。
探针配置：将探针安装到探针座上，确保探针与样品接触良好。
设置实验参数：通过操作界面设置所需的电流、电压和测试模式。
开始测试：启动测试程序，实时监测数据并记录实验过程中的变化。
数据分析：实验结束后，使用软件分析数据，生成报告并进行结果讨论。

WAYES-VAC中端探针台哪些实验室在用：

清华大学：用于半导体器件的电气特性测试。
北京大学：研究新型材料的电气性能。
复旦大学：进行光电器件的性能测试。
上海交通大学：在纳米技术研究中进行材料特性分析。
中科院微电子研究所：用于集成电路的质量控制和测试。
浙江大学：研究半导体材料的电气特性。

WAYES-VAC中端探针台售后服务支持：

电话与在线支持：提供专业的技术咨询，解答用户在操作和维护过程中遇到的问题。
现场服务：技术人员可根据需要到现场进行设备检查和故障排除。
故障诊断与维修：快速响应用户的维修请求，进行故障诊断和必要的维修。
更换零部件：提供原厂零部件的更换服务，确保设备的稳定性和长期使用。
操作培训：为用户提供设备操作培训，确保用户能够熟练使用仪器。
固件与软件升级：定期提供软件和固件的更新服务，以保证设备功能的最新和最佳性能。
用户手册：提供详细的用户手册和操作指南，帮助用户更好地理解和使用设备。
技术文献：提供相关的应用文献和案例分析，支持用户的研究和开发工作。

相关产品：

高倍率金相显微镜：用于观察样品的微观结构，辅助探针测试。

四探针测试仪：用于测量材料的电阻和电导率，评估材料性能。

扫描电子显微镜（SEM）：用于观察样品表面的形貌，结合探针测试进行分析。

光谱仪：用于分析材料的光电特性，支持光电器件的研究。

温控系统：用于在不同温度条件下进行电气测试，研究温度对材料性能的影响。

自动化测试系统：用于提高测试效率，支持多通道的自动化测试。