JEOL JIB-4700F扫描电子显微镜

 

JIB-4700F扫描电子显微镜在1kV低加速电压下，能够实现1.6nm的分辨率，该显微镜结合了聚焦离子束（FIB）和扫描电子显微镜（SEM）的功能，配备高电流密度的Ga离子束，最大探针电流可达90nA，支持快速样品加工。具备自动化的三维重构功能，能够在样品加工过程中自动捕获SEM图像，便于进行三维分析。

科研实验应用：1、材料科学：用于新材料的形貌观察和性能分析，特别是在纳米材料研究中；2、半导体行业：在半导体器件的开发和质量控制中，进行微观结构分析；3、生物医学：用于生物样品的观察和分析，帮助研究生物材料的特性；4、金属材料研究：分析金属合金的微观结构和相组成；5、纳米技术。

JEOL JIB-4700F扫描电子显微镜技术参数：

着陆电压	0.1至30.0kV
图像分辨率（最佳WD时）	1.2nm（15kV，GB模式） 1.6nm（1kV，GB模式）
放大	x20至1,000,000 （LDF模式可用）
探针电流	1pA至300nA
探测器（*选项）	LED、UED、USD*、BED*、TED*、EDS*
标本台	计算机化6轴测角台 X：50毫米，Y：50毫米，Z：1.5至40毫米，R：360°，T：-5至70°， FZ：-3.0至+3.0毫米
聚焦离子束
加速电压	1至30kV
图像分辨率	4.0纳米（30千伏）
放大	x50至1,000,000 （在15kV或更低时获得x50至90）
探针电流	1pA至90nA，13个步骤
通过铣削加工形状	矩形、线、点、圆、位图

JEOL JIB-4700F扫描电子显微镜使用方法：

1. 样品准备：根据实验要求准备待测样品，确保样品表面平整。
2. 设备设置：根据样品类型和测试需求设置显微镜的参数，包括加速电压和探针电流。
3. 样品安装：将样品固定在样品台上，确保其位置准确。
4. 启动测试：启动显微镜，进行初步的图像采集和调整。
5. 数据采集：进行高分辨率观察，记录所需的图像和数据。
6. 结果分析：分析采集的数据，生成报告，评估样品的微观结构和性能。

JEOL JIB-4700F扫描电子显微镜哪些实验室在用：

• 清华大学材料科学与工程系：用于新材料的微观结构分析。
• 北京大学物理学院：用于纳米材料的研究与开发。
• 上海交通大学材料科学与工程学院：用于金属材料的性能评估。
• 中科院金属研究所：用于金属合金的微观结构分析。
• 复旦大学生物医学工程学院：用于生物材料的观察与分析。
• 浙江大学材料与化学工程学院：用于高分子材料的研究。

JEOL JIB-4700F扫描电子显微镜售后服务支持：

• 在线支持：提供在线技术支持，用户可以通过电子邮件或官方网站提交问题。
• 电话支持：专业技术团队可通过电话为用户提供实时帮助。
• 保修期限：提供一定期限的保修服务，具体视购买协议而定。
• 现场维修：提供现场维修服务，确保设备快速恢复正常运行。
• 运输维修：若设备不能现场修复，可以安排运输至服务中心进行维修。
• 维护计划：提供定期维护服务，以确保设备的最佳性能和准确度。
• 校准服务：定期校准设备，确保测量结果的可靠性。
• 用户培训：提供设备操作培训，确保用户能够熟练使用仪器。
• 应用培训：针对特定应用提供培训，以帮助用户发挥设备的最大潜力。

相关产品：

电子天平：用于精确称量样品，确保测试数据的准确性。

X射线衍射仪（XRD）：用于分析材料的晶体结构，提供补充数据。

能量色散X射线光谱仪（EDS）：用于元素分析，提供样品的化学成分信息。

激光粒度仪：用于测量样品的颗粒大小分布，辅助材料特性分析。

硬度计：用于测量材料的硬度，评估其耐磨性。

流变仪：用于测量材料的流动特性，帮助理解其力学性能。