舜宇 SDPTOP MX4R正置金相显微镜

 

SDPTOP MX4R正置金相显微镜采用低重心、高刚性、高稳定性的金属机架，确保系统的抗震能力与成像稳定性。集成明场、暗场、斜照明、偏光和DIC微分干涉等多种观察方式，适应不同的实验需求。采用半复消色差技术的长工作距离物镜，确保图像清晰锐利，色彩自然。设计有大行程移动平台，移动范围可达105mmx105mm。

科研实验应用：1、金相分析：用于金属材料的显微结构分析，评估材料的性能和质量；2、半导体检测：在半导体行业中用于硅晶片的检测和分析；3、材料科学研究：用于新材料的开发和性能测试；4、地质矿物分析：分析矿物样品的微观结构和成分；5、精密工程测量：在工程领域进行精密测量和质量控制。

SDPTOP MX4R正置金相显微镜技术参数：

型号	MX4R
可选择的观察方法	明场/斜照明/偏振光/DIC
光学系统	无限远色差校正光学系统
目镜	PL10X/22平场高眼点目镜
观察筒	30°铰链式三目，分光比，双目：三目=100：0或50:50
物镜	LMPL无限远长工作距金相物镜5X、10X、20X、50X、100X
转换器	5孔内倾式转换器，带DIC插槽
载物台	4”双层机械移动平台，行程105x 105mm，带金属平板平台，右手位X、Y移动手轮，配平台接口
显微镜镜体	粗微调同轴、粗调行程33mm，微调精度0.001mm,，带粗调机构上限位及松紧调节装置。内置90-240V宽电压变压器，单路电源输出
反射照明器系统	带可变视场光阑与孔径光阑，均可调中心；带滤色片插槽与偏光装置插槽；带斜照明切换拉杆。12V100W卤素灯，光强连续可调（选择此组照明器时，应使用MX-6R型显微镜镜体）

SDPTOP MX4R正置金相显微镜使用方法：

1. 准备样品：将待观察的样品切割并制备成适合观察的薄片。
2. 安装样品：将样品放置在显微镜的移动平台上，确保样品固定。
3. 选择物镜：根据需要观察的细节选择合适的物镜（如5X、10X、50X等）。
4. 调节光源：打开照明系统，调节光源强度，确保样品清晰可见。
5. 对焦观察：使用粗微调和细微调对焦机构，调整至最佳观察状态。
6. 记录数据：观察后记录显微图像和相关数据，进行后续分析。

SDPTOP MX4R正置金相显微镜哪些实验室在用：

• 中国科学院金属研究所：用于金属材料的显微结构分析。
• 清华大学材料科学与工程系：用于新材料的开发和性能测试。
• 北京航空航天大学：在航空材料的研究中进行金相分析。
• 复旦大学材料科学系：用于半导体材料的显微检测。
• 中南大学材料科学与工程学院：用于矿物和金属材料的显微分析。
• 华中科技大学材料科学与工程学院：用于电子元件的质量检测。

SDPTOP MX4R正置金相显微镜售后服务支持：

• 在线支持：提供在线技术支持，用户可以通过电子邮件或官方网站提交问题。
• 电话支持：专业技术团队可通过电话为用户提供实时帮助。
• 保修期限：提供一定期限的保修服务，具体视购买协议而定。
• 现场维修：提供现场维修服务，确保设备快速恢复正常运行。
• 运输维修：若设备不能现场修复，可以安排运输至服务中心进行维修。
• 维护计划：提供定期维护服务，以确保设备的最佳性能和准确度。
• 校准服务：定期校准设备，确保测量结果的可靠性。
• 用户培训：提供设备操作培训，确保用户能够熟练使用仪器。
• 应用培训：针对特定应用提供培训，以帮助用户发挥设备的最大潜力。

相关产品：

扫描电子显微镜（SEM）：用于获取样品的高分辨率图像，分析表面形貌。

X射线衍射仪（XRD）：用于分析材料的晶体结构和相组成。

热重分析仪（TGA）：用于研究材料在加热过程中的质量变化。

差示扫描量热仪（DSC）：用于测量材料的热性质。

电化学工作站：用于材料的电化学性能测试。

激光粒度仪：用于测量样品的颗粒大小分布。