FISCHER SCOPE XULM240厚度测量仪

 

Fischer SCOPE XULM厚度测量仪用于测量和分析印刷电路板上涂层厚度和成分的专用X射线荧光测量仪,测量尺寸最大为610x610毫米(24x24英寸)的印刷电路板上的小型元件和结构,通过使用微焦点X射线源和正比计数管实现高计数率,从而实现精确测量。

FISCHER SCOPE XULM240厚度测量仪

科研实验应用:在材料科学研究、表面工程研究、电子器件制备、纳米科技研究应用广泛,用于线路板行业Au/Ni/Cu/PCB或Sn/Cu/PCB等镀层的测量;电子行业接插件和触点的镀层测量、装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS、 批量生产部件(螺丝和螺母)防腐镀层测量,如Zn/Fe、ZnNi/Fe、珠宝和手表行业、测定电镀槽中的金属含量。还包括金属、塑料、陶瓷等。可以测量各种材料的厚度。

Fischer SCOPE XULM240厚度测量仪规格:

  • 根据DINISO3497和ASTMB568使用X射线荧光分析电镀浴和涂层厚度测量
  • XULM的最小测量点约为0.1毫米
  • 钨X射线管或钨微焦点管(XULM)作为X射线源
  • 经验证的正比计数管探测器可缩短测量时间
  • 准直器:固定或4x自动更换
  • 初级过滤器:固定或3x自动更换
  • 固定样品支架或手动XY载物台
  • 用于光学观察测量点的摄像机
  • Fischer专利:DCM方法,可简单快速地调整测量距离
  • 经过认证的全面保护装置

FISCHERSCOPE XULM240厚度测量仪使用方法:

  • 开机启动与自检。启动仪器并进行自动系统自检。
  • 设置测量条件。设置测头类型、测量模式、测量单位等参数。
  • 安装测头。选择合适的测头头型适应样品表面类型安装到仪器上。
  • 定位测头与样品。将测头头面对准样品表面需要测量的位置。
  • 测量压材。轻轻按压测头接触样品表面实现测量。
  • 读取结果。系统读取测量值,数据可以实时显示或打印输出。
  • 储存或输出结果。选择存储测量数据到内存或以表格或曲线形式输出。

Fischer SCOPE XULM240厚度测量仪有哪些实验室在用:

  • 中国科学院上海硅酸盐研究所先进材料国家重点实验室
  • 上海交通大学材料科学与工程学院实验中心
  • 华中科技大学材料科学与工程学院实验中心
  • 武汉理工大学材料科学与工程学院实验中心
  • 同济大学材料科学与工程学院实验中心

Fischer SCOPE XULM240厚度测量仪售后服务:

  • 如果您在使用Fischer SCOPE XULM240厚度测量仪时遇到操作问题或需要技术支持,您可以联系Fischer的技术支持团队。专业工程师可以提供指导、解答问题,并帮助您解决仪器使用中的疑问。
  • 仪器需要维修、保养或校准,您可以联系Fischer的售后服务团队。他们将为您提供有关维修流程、送修方式和费用等方面的支持。
  • Fischer通常会提供原厂认证的配件和耗材,以确保仪器的性能和质量。您可以向Fischer咨询相关的配件和耗材供应。

相关产品:

面粗糙度测量仪:测量样品表面的粗糙度参数,提供与厚度测量相补充的表面质量信息。

光学显微镜:观察样品表面形貌和结构,提供可视化的信息,有助于解释厚度测量数据。

扫描电子显微镜(SEM):提供高分辨率的表面形貌和成分分析。

荧光光谱仪。

X射线衍射仪(XRD)。

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