Keyence VK-X1000激光显微镜
VK-X1000激光显微镜采用404nm激光,能够实现20nm的垂直分辨率和衍射极限的横向分辨率,可在最大50mmx50mm的区域内进行测量,适用于大面积样品的分析。配备先进的图像分析软件,能够测量表面粗糙度、曲率半径、台阶高度、孔隙和突起的体积及表面积等多种表面形态参数。配备自动化工作台和六个物镜,简化了操作流程,提高了测量效率。
科研实验应用:1、材料科学:用于分析材料表面的微观结构和粗糙度,评估材料性能;2、半导体行业:在半导体制造中用于测量薄膜厚度和表面缺陷;3、生物医学:用于生物样品的表面形态分析,帮助研究细胞和组织的结构;4、光学元件:用于光学元件的表面质量检测,确保光学性能。
Keyence VK-X1000激光显微镜技术参数:
型号 | VK-X1000 | ||
类型 | 控制器 | ||
综合倍率 | 28,800倍以下*1 | ||
视野(最小视野范围) | 11µm至7,398µm | ||
帧率(激光测量速度) | 4至125Hz、7,900Hz*2 | ||
测量原理 | 光学系统 | 针孔共聚焦光学系统、变焦 | |
光接收元件 | 16bit感应光电倍增器、超高精细彩色CMOS | ||
扫描方式 | 自动上下限设定功能、高速光量最佳化功能(AAGII)、反射光量不足补充功能(双扫描) | ||
(常规测量时及图像拼接时) | |||
高度测量 | 显示分辨率 | 0.5nm(VK-X1100)、5nm(VK-X1050) | |
线性标尺 | |||
动态量程 | 16bit | ||
(来自工件的光接收量的适用幅度) | |||
重复精度σ | 激光共聚焦 | 20倍:40nm、50倍:12nm(VK-X1100) | |
20倍:40nm、50倍:20nm(VK-X1050) | |||
变焦 | 5倍:500nm、10倍:100nm、20倍:50nm、50倍:20nm(VK-X1100) | ||
5倍:500nm、10倍:100nm、20倍:50nm、50倍:30nm(VK-X1050) | |||
高度数据获取范围 | 70万步骤 | ||
准确性 | 0.2+L/100µm或更小(L=测量长度µm)*3 | ||
宽度测量 | 显示分辨率 | 1nm(VK-X1100)、10nm(VK-X1050) | |
重复精度3σ | 激光共聚焦 | 20倍:100nm、50倍:40nm(VK-X1100) | |
20倍:100nm、50倍:50nm(VK-X1050) | |||
变焦 | 5倍:400nm、10倍:400nm、20倍:120nm、50倍:50nm(VK-X1100) | ||
5倍:400nm、10倍:400nm、20倍:120nm、50倍:65nm(VK-X1050) | |||
准确性 | 测量值±2%以内*3 | ||
XY载物台结构 | 手动运行范围 | 70mmx70mm | |
电动运行范围 | 100mmx100mm | ||
观察 | 观察图像 | 超高精细彩色CMOS图像、16bit激光彩色共焦点图像、共焦点+ND滤波器光学系统、C-激光微分干涉图像 | |
照明 | 环状照明、同轴落射照明 | ||
测量用激光光源 | 波长 | 紫色半导体激光404nm(VK-X1100) | |
红色半导体激光661nm(VK-X1050) | |||
最大输出 | 1mW | ||
激光产品 | 2类激光产品(GB7247.1) | ||
电源 | 电源电压 | 100至240VAC、50/60Hz | |
消耗电流 | 150VA | ||
重量 | 约3.0kg |
Keyence VK-X1000激光显微镜使用方法:
- 准备工作:确保显微镜放置在稳定的工作台上,连接电源和计算机。
- 样品准备:将待测样品固定在自动化工作台上,确保样品表面清洁。
- 选择测量模式:根据实验需求选择合适的测量模式,如表面粗糙度或薄膜厚度测量。
- 设置参数:根据样品特性设置激光功率、扫描速度和分辨率等参数。
- 启动测量:通过控制软件启动测量,显微镜将自动进行扫描。
- 数据分析:测量完成后,使用软件分析数据,生成报告。
- 清理与关机:完成实验后,清理工作区域,关闭显微镜。
Keyence VK-X1000激光显微镜有哪些实验室在用:
- 清华大学材料科学与工程系:用于材料表面形貌的分析。
- 北京大学生物医学工程学院:在生物样品研究中进行细胞表面特性测量。
- 复旦大学光学与电子工程系:用于光学元件的表面质量检测。
- 中科院物理研究所:在纳米材料研究中进行表面粗糙度测量。
- 华东理工大学化学工程学院:用于涂层厚度和均匀性分析。
- 中南大学材料科学与工程学院:在半导体材料研究中进行薄膜厚度测量。
Keyence VK-X1000激光显微镜售后服务支持:
- 在线支持:提供在线技术支持,用户可以通过电子邮件或官方网站提交问题。
- 电话支持:专业技术团队可通过电话为用户提供实时帮助。
- 保修期限:提供一定期限的保修服务,具体视购买协议而定。
- 现场维修:提供现场维修服务,确保设备快速恢复正常运行。
- 运输维修:若设备不能现场修复,可以安排运输至服务中心进行维修。
- 维护计划:提供定期维护服务,以确保设备的最佳性能和准确度。
- 校准服务:定期校准设备,确保测量结果的可靠性。
- 用户培训:提供设备操作培训,确保用户能够熟练使用仪器。
- 应用培训:针对特定应用提供培训,以帮助用户发挥设备的最大潜力。
相关产品:
扫描电子显微镜(SEM):用于观察样品的表面形貌和微观结构,结合VK-X1000进行更详细的分析。
原子力显微镜(AFM):用于测量样品的表面粗糙度和形貌,适合纳米级别的测量。
光学显微镜(Optical Microscope):用于初步观察样品,结合激光显微镜进行更深入的分析。
白光干涉仪(White Light Interferometer):用于高精度的表面形貌测量,适合与VK-X1000进行互补分析。
激光共聚焦显微镜(Confocal Laser Scanning Microscope):用于三维成像,结合VK-X1000进行更全面的表面分析。
X射线衍射仪(XRD):用于材料的晶体结构分析,结合VK-X1000进行表面特性与内部结构的综合研究。
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