ZEISS Sigma300扫描电子显微镜
ZEISS Sigma300扫描电子显微镜利用Sigma直观的4步工作流程构建您的成像和分析例程并提高工作效率。将比以往更快地捕获更多数据。从多种探测器选项中进行选择,以根据您的应用精确定制Sigma:您可以对颗粒、表面、纳米结构、薄膜、涂层和层进行成像。

主要科研应用:材料微观组织结构分析、纳米材料形态表征、微电子元器件缺陷观察、材料破损位点分析、生物样品表面观察等。
ZEISS Sigma300扫描电子显微镜技术数据:
- 电子源:肖特基热场发射器
- 30kV(STEM)时的分辨率:1.0纳米
- 15kV时的分辨率:1.0纳米
- 1kV时的分辨率:1.6纳米
- 30kV时的分辨率(VP模式):2.0纳米
- 反向散射探测器(BSD):aBSD/HDBSD
- 最大扫描速度:50纳秒/像素
- 加速电压:0.0230kV
- 放大倍率:10×1,000,000×
- 探头电流:3pA20nA(100nA可选)
- 图像帧存储:32k×24k像素
- 端口:10
- EDS端口:2(1个专用端口)
真空模式:
- 高真空:是
- 可变压力:10-133帕
- 舞台类型:5轴同心平台
- 舞台行程X:125毫米
- 载物台行程Y:125毫米
- 载物台行程Z:50毫米
- 载物台行程T:-10至+90度
ZEISS Sigma300扫描电子显微镜使用方法主要步骤:
- 载入样品并调节高度
- 选择合适的加速电压和探针电流
- 设置放大倍数并选择工作模式
- 对准样品区域并进行拍照或录像
- 使用INCA软件进行定量分析
- 保存或打印结果图谱报告
ZEISS Sigma300扫描电子显微镜有哪些实验室在用:
- 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 复旦大学材料科学与工程学院
- 南京大学微电子学院
- 武汉大学光电信息工程学院
- 中国科学技术大学微电子学院
ZEISS Sigma300扫描电子显微镜售后服务:
- 定期上门进行设备免费检测;
- 提供全年24小时在线技术支持;
- 定期上门或线下进行使用培训;
- 设备软件和固件免费升级支持;
- 长期提供各种使用备件供应等。
联用产品:成像软件、微探针、EDS成分分析仪、超高分辨相机、机械臂样品取放系统、EVO量子聚焦平台、INCA特征检测软件、Gemini列扫描系统。
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