HORIBA ACTIVA-S等离子体发射光谱仪
ACTIVA-S等离子体发射光谱仪波长范围160–800纳米,采用高光学分辨率的CCD检测器,能够在全波段内保持恒定的光学分辨率,,具备即插即用的功能,自动优化工作条件,降低了操作难度。支持多种样品类型的分析,包括液体和固体样品,适应性强。配备功能强大的分析软件,支持定性和半定量分析,提升数据处理效率。
科研实验应用:1、环境监测:用于水质分析和土壤污染物检测,评估环境中重金属和其他有害元素的浓度;2、材料科学:分析金属、陶瓷和复合材料中的元素组成,研究材料的性能;3、化学制造:在化学工业中用于原材料和产品的质量控制,确保符合标准;4、矿物分析:用于矿石和矿物样品的元素分析,评估矿产资源的价值。
HORIBA ACTIVA-S等离子体发射光谱仪参数;
发电机 | 自动固态,40.68MHz,水冷 |
---|---|
排气 | 智能油烟机系统 |
等离子体 | 完全可拆卸炬管,3毫米内径喷射器,12升/分钟等离子气体,0.2升/分钟鞘气 |
样品介绍 | 同心玻璃雾化器和玻璃旋风雾化室,3通道蠕动泵 |
光学系统 | 温度调节,0.64米焦距,双背靠背光栅(4343g/mm和2400g/mm, 光学分辨率分别为<12pm和22pm),氮气或氩气吹扫 |
波长范围 | 160–800纳米 |
检测 | 开放电极,1024x256像素,26x26μm像素尺寸,-30°C,300000电子作为满阱容量,1MHz,10e-rms超低噪声和0.05e-/像素/秒的暗电流 |
HORIBA ACTIVA-S等离子体发射光谱仪使用方法:
- 样品准备:根据分析需求准备样品,通常为液体样品或经过处理的固体样品。
- 设置仪器:打开ACTIVA-S仪器,设置分析参数,包括波长范围、样品类型和分析方法。
- 进样:将样品引入仪器,确保样品流动顺畅,避免气泡和堵塞。
- 启动分析:启动仪器进行分析,系统将自动进行数据采集和处理。
- 数据分析:分析完成后,使用软件查看和分析结果,生成报告。
- 清洁和维护:分析结束后,清洁进样系统,确保仪器的长期稳定性。
HORIBA ACTIVA-S等离子体发射光谱仪有哪些实验室在用:
- 中国科学院福建物质结构研究所:用于材料的元素分析和质量控制。
- 清华大学化学系:在化学研究中应用于样品的定量分析。
- 东华大学:用于纺织材料的成分分析和质量检测。
- 中科院地质与地球物理研究所:用于矿物样品的元素分析。
- 中国农业科学院:在农业研究中用于土壤和水质的重金属检测。
- 北京大学环境科学与工程学院:用于环境监测和污染物分析。
HORIBA ACTIVA-S等离子体发射光谱仪售后服务支持:
- 在线支持:提供在线技术支持,用户可以通过电子邮件或官方网站提交问题。
- 电话支持:专业技术团队可通过电话为用户提供实时帮助。
- 保修期限:提供一定期限的保修服务,具体视购买协议而定。
- 现场维修:提供现场维修服务,确保设备快速恢复正常运行。
- 运输维修:若设备不能现场修复,可以安排运输至服务中心进行维修。
- 维护计划:提供定期维护服务,以确保设备的最佳性能和准确度。
- 校准服务:定期校准设备,确保测量结果的可靠性。
- 用户培训:提供设备操作培训,确保用户能够熟练使用仪器。
- 应用培训:针对特定应用提供培训,以帮助用户发挥设备的最大潜力。
相关产品:
气相色谱仪(GC):用于分析气体样品中的化学成分,常与ICP-OES联用。
液相色谱仪(HPLC):用于液体样品的分离和分析,适合复杂基质的样品。
热重分析仪(TGA):用于分析材料的热稳定性,评估其在高温下的性能。
差示扫描量热仪(DSC):用于测定材料的热特性,如熔点和玻璃化转变温度。
傅里叶变换红外光谱仪(FTIR):用于分析样品的化学结构和功能团。
电子天平:用于样品的精确称量,确保分析结果的准确性。
文章标签:等离子体发射光谱仪activa-shoriba微波等离子体光谱仪 MPT MIP 评论收藏分享
采购、售后(仪器设备提交仪器设备信息
"HORIBA ACTIVA-S等离子体发射光谱仪"相关
- HORIBA Ultima Expert电感耦合等离子体原子发射光谱仪
- Ultima Expert电感耦合等离子体原子发射光谱仪提供从120nm到800nm的连续波长覆盖,适合多种元素的分析,尤其是卤素元素的灵敏度得到了显著提高,通过侧向观测和全等离子观测,UltimaE
- 谱育科技 EXPEC7350等离子体发射光谱仪
- EXPEC7350等离子体发射光谱仪质量数范围2-290amu,通过创新的垂直离子光学设计和二次偏转设计,显著降低背景干扰,提高分析的准确性。支持多种进样方式,包括固体直接进样和液体样品分析,适用于环
- HORIBA nanoPartica SZ-100V2纳米粒度及Zeta电位分析仪
- nanoPartica SZ-100V2纳米粒度及Zeta电位分析仪采用动态光散射(DLS)原理测量颗粒粒径大小及分布,粒径测量范围0.3nm~10µm,可准确测量低至ppm级低浓度,Zeta电位测量