BRUKER S8 TIGER 4kW X射线荧光光谱仪

 

S8 TIGER 4kW X射线荧光光谱仪采用HighSense技术，能够检测从铍（Be）到铀（U）的所有元素，4kW的薄窗X射线管，激发电流可达170mA，适合分析轻元素，配备XRF2微区分析系统，最小光斑尺寸可达300μm，适合进行高空间分辨率的微区分析。具备四重保护机制，降低维护成本。

科研实验应用：1、环境监测：用于检测土壤、水体和空气中的重金属及污染物，评估环境质量；2、材料科学：分析金属、合金、陶瓷等材料的成分，研究材料的物理和化学特性；3、矿物分析：广泛应用于矿石和矿物的成分分析，支持矿业开发和资源评估；4、化工行业：用于化学品的成分分析和质量控制，支持化工产品的研发和生产。

BRUKER S8 TIGER 4kW X射线荧光光谱仪参数：

系统	S8TIGER4kW 4kW 最大60kV 最大170毫安
X射线管	Rh，75μm铍窗口 Rh，50μm铍窗口，SampleCare保护涂层 Rh，28μm铍窗口，SampleCare保护涂层 Cr，最大3.3kW
准直器	自动准直器更换器（最多4个）
分析晶体	自动晶体更换器（最多8个） 包括：XS-55、PET、LiF(200) 可选：XS-B、XS-C、XS-N、XS-PET-C、XS-CEM、XS-Ge-C、LiF(220)、LiF(420)、ADP、Ge、TlAP、InSb、XS-N-HS、XS-100、XS-400、XS-InSb-C
DynaMatch	线性强度范围超过1300万cps
HighSense探测器	比例流计数器和闪烁计数器：容量超过3Miocps，线性范围为2Miocps
X射线荧光2	具有0.3毫米和1.25毫米点(FWHM)的高分辨率和高强度元素映射
自动光罩更换器	自动掩模：关闭（SampleCare；）34毫米、28毫米、23毫米、18毫米、8毫米（BeamGuide）、5毫米（BeamGuide）
触控1)	集成触摸屏，操作简单直观
样品护理1)	X射线管和测角仪受防污罩保护， 样品室和光谱仪室由可编程真空密封隔开
易载1)	自动样品识别 便携式样品托盘
电源要求	208V，60赫兹（1P/3P） 230V，50/60赫兹（3P）
压缩空气
检测气体	流量计数器用P5气体（5%甲烷、95%氩气） 流量计数器用P10气体（10%甲烷、90%氩气）
外部冷却水	冷却水 自动调节并最小化水消耗，补偿短期中断
尺寸 （高x宽x深）	135厘米x84厘米x104厘米； 53.1英寸x33.1英寸x41英寸
	触摸屏：允许额外宽度49厘米
	476公斤
质量与安全	DINENISO9001:2008 CE认证 完全防辐射系统；辐射<1μSv/h(BfS09/07VRöV)

BRUKER S8 TIGER 4kW X射线荧光光谱仪使用方法：

1. 准备工作：确保仪器已正确安装并连接电源。准备待分析的样品，确保样品表面干净。
2. 开机设置：打开仪器电源，选择所需的分析模式（如固体、液体等）。
3. 样品放置：将样品放置在仪器的测量位置，确保样品与光管的距离保持一致。
4. 真空度控制：启动真空系统，确保达到预设的真空度后再开始测量。
5. 开始测量：启动测量程序，记录分析数据，观察实时结果。
6. 数据分析与保存：完成测量后，使用软件分析数据，保存结果并生成报告。

BRUKER S8 TIGER 4kW X射线荧光光谱仪有哪些实验室在用：

• 中国科学院地质与地球物理研究所：用于矿物成分分析和资源评估。
• 清华大学材料科学与工程系：分析金属和合金的成分，研究材料性能。
• 复旦大学环境科学与工程系：检测环境样品中的重金属和污染物。
• 中科院生态环境研究中心：用于环境监测和生态评估。
• 上海交通大学化学系：分析化学品的成分，支持化工产品研发。
• 中国农业科学院：检测农产品中的重金属和有害物质，确保食品安全。

BRUKER S8 TIGER 4kW X射线荧光光谱仪售后服务支持：

• 服务内容：提供专业的安装和调试服务，确保设备正常运行。
• 定期维护：建议每年进行一次全面的维护，包括硬件检查和软件更新。
• 校准服务：按照国际标准对设备进行校准，保证测试结果的准确性。
• 热线支持：提供24小时技术热线，解决用户在使用过程中遇到的技术问题。
• 在线支持：通过邮件和在线聊天工具提供技术咨询。
• 原厂配件：提供原厂认证的配件和耗材，确保设备的长期稳定运行。
• 用户培训：为操作人员提供设备使用和维护的培训，确保用户熟练掌握操作技能。
• 定期研讨会：定期举办用户交流会，分享最佳实践和最新技术。

相关产品：

电子天平：用于样品称量，确保分析前的准确性。

气相色谱仪（GC）：与XRF联用，分析气体样品中的成分。

液相色谱仪（HPLC）：用于液体样品的成分分析，结合XRF进行全面分析。

扫描电子显微镜（SEM）：用于观察样品的微观结构，结合XRF进行元素分析。

质谱仪（MS）：与XRF联用，提供更全面的样品成分分析。

热重分析仪（TGA）：用于分析样品的热稳定性，结合XRF进行材料性能研究。