HORIBA nanoPartica SZ-100V2纳米粒度及Zeta电位分析仪

 

nanoPartica SZ-100V2纳米粒度及Zeta电位分析仪采用动态光散射(DLS)原理测量颗粒粒径大小及分布，粒径测量范围0.3nm~10µm，可准确测量低至ppm级低浓度，Zeta电位测量范围–500~+500mV，电位样品池可防止样品对其造成污染。样品池容量（最低容量100μL）小适用于稀释样品的分析。

科研实验应用：1、纳米材料研究：用于表征纳米颗粒的物理特性，帮助研究人员开发新材料；2、生物医学研究：在药物递送系统和生物标志物的研究中，分析纳米颗粒的稳定性和分散性；3、环境科学：用于水质监测和污染物分析，评估纳米颗粒对环境的影响；4、化妆品行业：分析化妆品中纳米成分的粒径和分散性，确保产品的安全性和有效性。

HORIBA nanoPartica SZ-100V2纳米粒度及Zeta电位分析仪技术参数：

型号	SZ-100-S2（仅限粒径和分子量测量）
测量原理	粒度测量：动态光散射 分子量测量：德拜记点法（静态散射光强度）
测量范围	粒径：0.3nm至10μm 分子量：1000至2×107Da（德拜记点） 540至2×107Da（MHS方程）*1
最大样品浓度	40%*2
粒度测量精度	以100nm的聚苯乙烯乳胶球体为例，其测量精度为±2%（不包括标准颗粒本身的变化）
测量角度	90°和173°（自动或手动选择）
样品池	比色皿
测量时间	常规条件下约2分钟（从测量开始到显示粒度测量结果）
所需样品量	12μL*3至1000μL（因比色皿材料而异）
分散剂	水、乙醇、有机溶剂

HORIBA nanoPartica SZ-100V2纳米粒度及Zeta电位分析仪使用方法：

1. 准备样品：根据需要选择合适的样品池，准备待测样品，确保样品均匀分散。
2. 连接设备：将样品池安装到仪器上，确保连接稳固。
3. 设置参数：在软件中设置测量参数，包括测量类型（粒径、Zeta电位或分子量）和样品浓度。
4. 开始测量：启动测量程序，仪器将自动进行数据采集。
5. 数据分析：测量完成后，软件将生成报告，用户可查看粒径分布、Zeta电位值和分子量等信息。
6. 清洁和维护：测量后，及时清洁样品池，定期检查仪器状态，确保其正常运行。

HORIBA nanoPartica SZ-100V2纳米粒度及Zeta电位分析仪有哪些实验室在用：

• 中国科学院化学研究所：用于纳米材料的粒径和Zeta电位分析，支持新材料的开发。
• 复旦大学生命科学学院：在生物医学研究中，分析药物递送系统的纳米颗粒特性。
• 清华大学环境学院：用于水质监测，评估纳米颗粒对水体的影响。
• 上海交通大学化学系：研究化妆品中纳米成分的稳定性和分散性。
• 中山大学食品科学与工程学院：分析食品添加剂的纳米颗粒特性，确保食品安全。
• 华南理工大学材料科学与工程系：在材料研发中，评估纳米颗粒的物理特性。

HORIBA nanoPartica SZ-100V2纳米粒度及Zeta电位分析仪售后服务支持：

• 电话与在线支持：提供专业的技术咨询，解答用户在操作和维护过程中遇到的问题。
• 现场服务：技术人员可根据需要到现场进行设备检查和故障排除。
• 故障诊断与维修：快速响应用户的维修请求，进行故障诊断和必要的维修。
• 更换零部件：提供原厂零部件的更换服务，确保设备的稳定性和长期使用。
• 操作培训：为用户提供设备操作培训，确保用户能够熟练使用仪器。
• 固件与软件升级：定期提供软件和固件的更新服务，以保证设备功能的最新和最佳性能。
• 用户手册：提供详细的用户手册和操作指南，帮助用户更好地理解和使用设备。
• 技术文献：提供相关的应用文献和案例分析，支持用户的研究和开发工作。

相关产品：

动态光散射仪（DLS）：用于测量纳米颗粒的粒径分布，常与SZ-100V2配合使用。

激光粒度仪：用于快速测量较大颗粒的粒径，适用于不同粒径范围的样品。

Zeta电位分析仪：专门用于测量颗粒的Zeta电位，评估其分散稳定性。

原子力显微镜（AFM）：用于观察纳米颗粒的形貌和结构，提供更详细的颗粒特性。

透射电子显微镜（TEM）：用于高分辨率观察纳米颗粒的内部结构和形态。

拉曼光谱仪：用于分析纳米颗粒的化学成分，结合SZ-100V2进行综合表征。