BRUKER M4 TORNADO PLUS X射线荧光光谱仪

 

M4 TORNADO PLUS是首款能够检测从碳（C，原子序数6）到锕（Am，原子序数95）之间所有元素的微区X射线荧光光谱仪，具备高达1200kcps的处理能力，能够快速获取样品的元素信息，配备两个大面积硅漂移探测器，优化了对轻元素的检测能力，尤其是铝、镁和钠等元素的信号灵敏度提高了2到3倍。

科研实验应用：1、法医科学：用于分析玻璃、金属等样品的成分，提供非破坏性的元素分析；2、地质学：用于矿物分析和地质样品的元素分布研究，能够区分不同矿物的成分；3、材料科学：在聚合物研究和半导体行业中，分析材料的元素组成和分布；4、环境监测：用于检测土壤和水样中的重金属元素，评估环境污染程度。

BRUKER M4 TORNADO PLUS X射线荧光光谱仪技术参数：

• AMS聚焦深度：>6mm
• 光斑尺寸：可调的准直器设置，支持0.5mm、1mm、2mm和4.5mm的光斑大小
• 元素检测范围：C（6）至Am（95），分析含量范围1ppm至99.99%
• 能量分辨率：小于140eV（Mn Kα）
• 探测器：采用大面积硅漂移探测器（SDD）
• 光源：配备优化的Rh（铑）X射线管，支持高达50kV的电压和30W的功率（可选40W用于准直器）
• 采样速率：具有高达1200kcps的脉冲处理能力，输出计数率可达550kcps
• 孔径管理系统（AMS）：该系统允许在约9mm的工作距离下进行分析，提供高达5mm的景深
• 空间分辨率：在小于20µm的光斑大小下进行分析，适合微米级别的样品特征分析
• 样品处理：快速样品交换系统，简化样品处理过程，提高工作效率。
• 数据采集：支持自动化数据采集，能够快速加载样品支架并自定义测量区域，适合多种样品类型的分析

BRUKER M4 TORNADO PLUS X射线荧光光谱仪使用方法：

1. 样品准备：确保样品表面清洁，适合进行X射线荧光分析。
2. 仪器设置：根据样品类型选择合适的光斑尺寸和X射线源。
3. 样品放置：将样品放置在样品台上，确保其稳定。
4. 数据采集：启动仪器，进行元素扫描，记录数据。
5. 数据分析：使用软件分析采集到的光谱数据，生成元素分布图和定量结果。
6. 结果验证：对比已知标准样品，验证分析结果的准确性。

BRUKER M4 TORNADO PLUS X射线荧光光谱仪有哪些实验室在用：

• 中国科学院地质与地球物理研究所：用于矿物成分分析和地质样品研究。
• 中国科学院合肥物质科学研究院：应用于材料科学研究，分析新材料的元素组成。
• 北京大学材料科学与工程学院：用于聚合物和复合材料的元素分析。
• 清华大学法医科学研究中心：在法医鉴识中分析玻璃和金属样品。
• 复旦大学环境科学与工程系：用于环境监测，分析土壤和水样中的重金属。
• 上海交通大学艺术与传媒学院：用于文物和艺术品的成分分析。

BRUKER M4 TORNADO PLUS X射线荧光光谱仪售后服务支持：

• 保修期：设备通常提供一定期限的保修期，涵盖制造缺陷和材料问题。
• 备件供应：确保常用备件的及时供应，减少设备停机时间。
• 软件更新：定期提供软件升级服务，添加新功能和修复已知问题。
• 硬件升级：可根据需求提供硬件升级服务，提升设备性能。
• 问题响应：针对客户反馈的问题，提供快速响应和解决方案。
• 保修范围：在保修期内，涵盖设备的材料和工艺缺陷。
• 在线资源：提供用户手册、操作指南和常见问题解答（FAQ）的在线访问。
• 满意度调查：定期进行客户满意度调查，收集反馈以改进服务质量。

相关产品：

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